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絕緣介電常數(shù)測試儀

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公司名稱北京航天偉創(chuàng)設(shè)備科技有限公司
品牌
型號
所在地
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時間2022/8/8 18:02:48
訪問次數(shù)149

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公司介紹主營產(chǎn)品

北京航天偉創(chuàng)設(shè)備科技有限公司是一家檢測儀器行業(yè)的*股份公司，注冊資金3000萬。公司致力于各類試驗(yàn)儀器的研發(fā)、生產(chǎn)、制造及銷售，并擁有自主研發(fā)軟件的專業(yè)團(tuán)隊(duì)，核心成員均具有精密試驗(yàn)儀器和材料檢測行業(yè)背景。

公司自創(chuàng)建以來，不斷吸納行業(yè)內(nèi)優(yōu)秀人才，形成一支具有豐富經(jīng)驗(yàn)的研發(fā)隊(duì)伍，目前已擁有強(qiáng)大的自主研發(fā)和創(chuàng)新能力，在充分保證產(chǎn)品質(zhì)量的前提下，不斷改進(jìn)和完善，及時應(yīng)用新標(biāo)準(zhǔn)、新技術(shù)，使產(chǎn)品始終處于行業(yè)lingxian地位。

公司現(xiàn)有電性能測試系列設(shè)備、機(jī)械物理性能測試系列、燃燒測試系列、試驗(yàn)機(jī)系列、試驗(yàn)箱系列、通用分析儀器系列等多個系列近百種產(chǎn)品。公司生產(chǎn)的試驗(yàn)儀器和檢測設(shè)備均符合GB、JB、JG、IEC、ASTM等國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和guoji標(biāo)準(zhǔn)要求。

公司堅(jiān)持“航天品質(zhì)，服務(wù)zhishang”的理念，以用戶需求和前沿技術(shù)驅(qū)動創(chuàng)新，推動檢測儀器行業(yè)發(fā)展，為廣大用戶提供更優(yōu)質(zhì)、可靠的產(chǎn)品！

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介電常數(shù)儀，點(diǎn)著溫度測定儀，漏電起痕儀，高壓擊穿試驗(yàn)儀

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

絕緣介電常數(shù)測試儀用于測試電氣絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗（tanδ）。介電常數(shù)又稱電容率或相對電容率，表征電介質(zhì)或絕緣材料電性能的一個重要數(shù)據(jù)，常用ε表示。它是指在同一電容器中用同一物質(zhì)為電介質(zhì)和真空時的電容的比值，表示電介質(zhì)在電場中貯存靜電能的相對能力。

絕緣介電常數(shù)測試儀產(chǎn)品信息

絕緣介電常數(shù)測試儀

絕緣介電常數(shù)儀

一、產(chǎn)品介紹

絕緣介電常數(shù)測試儀用于測試電氣絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗（tanδ）。介電常數(shù)又稱電容率或相對電容率，表征電介質(zhì)或絕緣材料電性能的一個重要數(shù)據(jù)，常用ε表示。它是指在同一電容器中用同一物質(zhì)為電介質(zhì)和真空時的電容的比值，表示電介質(zhì)在電場中貯存靜電能的相對能力。

絕緣介電常數(shù)儀由S916測試裝置（夾具）、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入QBG-3E/QBG-3F的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)的主機(jī)則是一臺阻抗測量設(shè)備（高頻Q表）。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。使用QBG-3E/3F或AS2853A數(shù)字Q表具有自動計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。

二、適用標(biāo)準(zhǔn)

1 GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
2 GBT 1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法
3 ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法
4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測試方法

三、主要測試材料

介電常數(shù)及介質(zhì)蒜損耗測試系統(tǒng)主要測試材料:
1 絕緣導(dǎo)熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等