環(huán)保在線>產(chǎn)品庫>光學(xué)儀器-熱搜分類>電子顯微鏡>透射電子顯微鏡>>日立200kV球差校正透射電鏡電子顯微鏡

日立200kV球差校正透射電鏡電子顯微鏡

參考價	￥ 35000000
訂貨量	≥3000000臺

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱上海斯邁歐分析儀器有限公司
品牌其他品牌
型號HF5000
所在地上海市
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時間2024/1/8 19:40:27
訪問次數(shù)341

產(chǎn)品標(biāo)簽:

透射電鏡

在線詢價收藏產(chǎn)品進入展商展臺

聯(lián)系方式：王經(jīng)理18602175640查看聯(lián)系方式

聯(lián)系我們時請說明是環(huán)保在線上看到的信息，謝謝!

索取相關(guān)資料

公司介紹主營產(chǎn)品

上海斯邁歐經(jīng)銷代理眾多進口品牌儀器（珀金埃爾默、賽默飛、島津、安捷倫、沃特世、AB、耶拿、日立等），主營產(chǎn)品有氣相色譜、液相色譜、原子吸收光譜儀、紫外分光光度計、氣質(zhì)聯(lián)用儀、液質(zhì)聯(lián)用儀；斯邁歐團隊成員均來自*儀器公司，具備豐富的儀器行業(yè)從業(yè)經(jīng)歷。

公司站在用戶角度，以企業(yè)“節(jié)約成本，提高質(zhì)量，科學(xué)管理”為導(dǎo)向，擔(dān)負著各行業(yè)“質(zhì)量求發(fā)展”的使命，更好地為科研單位、企業(yè)生產(chǎn)、院校教學(xué)、第三方檢測等領(lǐng)域而服務(wù)。

上海斯邁歐公司自成立以來，始終秉承“誠信為根，服務(wù)為本”的經(jīng)營理念，以敬業(yè)、創(chuàng)新、務(wù)實、拼搏的工作熱忱，本著“精益求精、全心全力”的服務(wù)原則，為我們的客戶提供精密、科技、科學(xué)的計量檢測儀器。

展開顯示更多內(nèi)容

氣相色譜、液相色譜、氣質(zhì)聯(lián)用儀、液質(zhì)聯(lián)用儀、原子吸收光譜儀、紫外分光光度計

產(chǎn)品簡介在線詢價

產(chǎn)地	進口	儀器種類	場發(fā)射

日立發(fā)布的200kV球差校正透射電鏡HF5000，具有高穩(wěn)定冷場發(fā)射電子槍，自動球差校正器，可一鍵操作實現(xiàn)自動球差校正，HAADF-STEM分辨率可以達到0.78埃；可配置EDS雙探頭，固體角可達2.0sr；具備TEM、STEM，SEM和電子衍射等多種圖像觀測模式；鏡筒和樣品臺經(jīng)過了重新設(shè)計，顯著提升了儀器的性能和穩(wěn)定性......HF5000將是材料學(xué)、生命科學(xué)、半導(dǎo)體制造、石油煤炭等研究

日立200kV球差校正透射電鏡電子顯微鏡產(chǎn)品信息

日立200kV球差校正HF5000透射電鏡特點:
標(biāo)配日立生產(chǎn)的照射系統(tǒng)球差校正器（附自動校正功能）
搭載具有高輝度、高穩(wěn)定性的冷場FE電子槍
鏡體和電源等的高穩(wěn)定性使機體的性能大幅度提升
觀察像差校正SEM/STEM圖像的同時觀察原子分辨率SE圖像
采用側(cè)面放入樣品的新型樣品臺結(jié)構(gòu)以及樣品桿
支持高立體角EDX*的對稱配置（對稱Dual SDD*）
采用全新構(gòu)造的機體外殼蓋
配備日立生產(chǎn)的高性能樣品桿*

像差校正SEM圖像/STEM圖像　同時觀察
配有標(biāo)配二次電子檢測器，可同時觀察像差校正SEM/STEM圖像。通過同時觀察樣品的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)，可以掌握樣品的三維構(gòu)造。
在像差校正SEM圖像中，除了可以通過校正球差來提高分辨率之外，還可以獲取更真實地樣品表面圖像。

高輝度冷場FE電子槍×高穩(wěn)定性×日立制球面像差校正器
以長年積累起來的高輝度冷場FE電子源技術(shù)為基礎(chǔ)，進行優(yōu)化，進一步實現(xiàn)電子槍的高度穩(wěn)定性。
此外，還更新了鏡體，電源系統(tǒng)和樣品臺，以支持觀察亞?圖像，并提升了機械和電氣穩(wěn)定性，然后與日立公司的球差校正器結(jié)合使用。
不僅可以穩(wěn)定地獲得更高亮度更精密的探頭，而且自動像差校正功能可以實現(xiàn)快速校正，從而易于發(fā)揮設(shè)備的固有性能。使像差校正可以更實用。

支持高立體角EDX*的對稱Dual SDD*
支持雙重配置100 mm2 SDD檢測器，以實現(xiàn)更高的靈敏度和處理能力進行EDX元素分析。
由于第二檢測器位于檢測器的對面位置，因此，幾乎不會因為樣品傾斜，導(dǎo)致X射線中的信號檢測量發(fā)生變化。所以，即使是結(jié)晶性樣品，也不用顧忌信號量，可按照樣品的方向與位置進行元素分析。
此外，對于電子束敏感樣品、低X光輻射量的樣品，除了原子列映射，在低倍、廣視野的高精細映射等領(lǐng)域也極為有效。

日立200kV球差校正HF5000透射電鏡像差校正SEM圖像/STEM圖像　同時觀察
配有標(biāo)配二次電子檢測器，可同時觀察像差校正SEM/STEM圖像。通過同時觀察樣品的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)，可以掌握樣品的三維構(gòu)造。
在像差校正SEM圖像中，除了可以通過校正球差來提高分辨率之外，還可以獲取更真實地樣品表面圖像。