應用領(lǐng)域
脈沖射頻輝光放電光譜儀不僅可對表面/深度進行剖析,同時也可做成分分析。它對固體材料,如金屬、金屬合金鍍層、半導體、有機鍍層、玻璃等中所有的元素都有很高的靈敏度,甚至是氣體元素也可進行分析。
作為新興的表面分析技術(shù),輝光放電光譜儀憑借其功能和特點,可以與XPS和SEM有很好的互補。
GD-OES功能及用途
脈沖射頻輝光放電光譜儀能夠在短短幾分鐘內(nèi)幫助您獲得如下信息:
樣品中含有什么元素?
屬于哪個濃度水平?
樣品在深度上是否分布均勻?
樣品是否有鍍層或應用了表面處理?
鍍層的厚度是多少?
界面是否有污染?
樣品是否被氧化?
不同層之間是否存在散射?
新的脈沖射頻輝光源可以測試任何類型的固體樣品:包括導體、非導體,甚至是在檢測脆性樣品或熱敏樣品時也具有優(yōu)異的性能。
HORIBA Scientific的所有GD儀器都采用了高動態(tài)范圍檢測器,采用該項技術(shù),使儀器的靈敏度可以做到實時、自動優(yōu)化。這樣在分析樣品的時候可以做到對樣品的痕量變化到常量濃度分析,進行快速靈敏的檢測而無需任何折衷或參數(shù)預設(shè)。
GD-Profiler™ HR
概要
HORIBA Jobin Yvon GD-Profiler™ HR 對于解決分析問題,即使是復雜的基體,提供了高分別率和元素數(shù)量。60種元素(包括氣體元素)可以同時分析。
特征
RF射頻發(fā)生器- 標準配置,符合E級標準,穩(wěn)定性高,濺射束斑極為平坦,等離子體穩(wěn)定時間極短,表面信息無任何失真。
脈沖工作模式既可分析常見的涂、鍍層和薄膜,也可以很好的分析熱傳導性能差和熱易碎的涂、鍍層和薄膜。
多道(同時)型光學系統(tǒng)可全譜覆蓋,光譜范圍:110nm至800nm,包含遠紫外,可分析C, H, O, N, Cl
HORIBA Jobin Yvon 的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器有光通量,因而有高的光效率和靈敏度
HDD® 檢測器可進行快速而高靈敏的檢測,動態(tài)范圍達到10個量級
寬大的樣品室方便各類樣品的加載
QUANTUMT XP軟件可以多種格式靈活方便的輸出檢測報告
激光指點器可用于準確加載樣品
HORIBA Jobin Yvon單色儀(選配件)可極大的提高儀器的靈活性,可同時測定N+1個元素
GD-Profiler HR 1米焦距,分辨率高達14pm,可同時分析60個元素.
GD-Profiler HR 可以附加選配1米焦距單色儀,分辨率高達9pm.