石墨烯/二維材料電學(xué)性質(zhì)非接觸快速測量系統(tǒng)
西班牙Das Nano公司成立于2012年,是一家提供高安全級(jí)別打印設(shè)備,太赫茲無損檢測設(shè)備以及個(gè)人身份安全驗(yàn)證設(shè)備的高科技公司。ONYX是其在各地范圍內(nèi)推出的一款針對石墨烯、半導(dǎo)體薄膜和其他二維材料大面積太赫茲無損表征的測量設(shè)備。ONYX采用*的脈沖太赫茲時(shí)域光譜技術(shù),實(shí)現(xiàn)了從科研及到工業(yè)級(jí)的大面積石墨烯及二維材料的無損和高分辨,快速的電學(xué)性質(zhì)測量,為石墨烯和二維材料科研和產(chǎn)業(yè)化研究提供了強(qiáng)大的支持。
與傳統(tǒng)四探針測量法相比,ONYX無損測量樣品質(zhì)量空間分布
與拉曼,AFM,SEM相比,ONYX能夠快速表征超大面積樣品
背景介紹
太赫茲輻射( T射線)通常指的是頻率在0. 1~10THz、波長在30 μm-3 mm之間的電磁波,其波段在微波和紅外之間,屬于遠(yuǎn)紅外和亞毫米波范疇。該頻段是宏觀經(jīng)典理論向微觀量子理論的過度區(qū),也是電子學(xué)向光子學(xué)的過渡區(qū)。在20世紀(jì)80年代中期以前,由于缺乏有效的產(chǎn)生方法和探測手段,科學(xué)家對于該波段電磁輻射性質(zhì)的了解和研究非常有限,在相當(dāng)長的一段時(shí)期,很少有人問津。電磁波譜中的這一波段(如下圖) ,以至于形成遠(yuǎn)紅外和亞毫米波空白區(qū),也就是太赫茲空白區(qū)(THz gap)。
太赫茲波段顯著的特點(diǎn)是能夠穿透大多數(shù)介電材料(如塑料、陶瓷、藥品、絕緣體、紡織品或木材),這為無損檢測(NDT)開辟了一個(gè)可能的新世界。同時(shí),許多材料在太赫茲頻率上呈現(xiàn)出可識(shí)別的頻率指紋特性,使得太赫茲波段能夠?qū)崿F(xiàn)對許多材料的定性和定量研究。太赫茲波的這兩個(gè)特性結(jié)合在一起,使其成為一種全新的材料研究手段。而且其光子能量低,不會(huì)引起電離,可以做到真正的無損檢測。
ONYX工作原理
ONYX是實(shí)現(xiàn)石墨烯、半導(dǎo)體薄膜和其他二維材料全面積無損表征的測量系統(tǒng),能夠滿足測試面積從科研級(jí)(mm2)到晶元級(jí)(cm2)以及工業(yè)級(jí)(m2)的不同要求。與其他大面積樣品的測量方法(如四探針法)相比,ONYX能夠直觀得到樣品導(dǎo)電性能的空間分布。與拉曼、掃描電鏡和透射電鏡等微觀方法相比,微米級(jí)的空間分辨率能夠?qū)崿F(xiàn)對大面積樣品的快速表征。
ONYX采用*的脈沖太赫茲時(shí)域光譜THz-TDS技術(shù),產(chǎn)生皮秒量級(jí)的短脈太赫茲沖輻射。穿透性*的太赫茲輻射穿透進(jìn)樣品達(dá)到各個(gè)界面,均會(huì)產(chǎn)生一個(gè)小反射波可以被探測器捕獲,獲得太赫茲脈沖的電場強(qiáng)度的時(shí)域波形。對太赫茲時(shí)域波形進(jìn)行傅里葉變換,就可以得到太赫茲脈沖的頻譜。分別測量通過試樣前后(或直接從試樣激發(fā)的)太赫茲脈沖波形,并對其頻譜進(jìn)行分析和處理,就可獲得被測樣品介電常數(shù),吸收吸收以及載流子濃度等物理信息。再利用步進(jìn)電機(jī)完成其掃描成像,得到其二維的電學(xué)測量結(jié)果。
ONYX主要參數(shù)及特點(diǎn)
樣品大小: 10x10mm-200x200mm 全面的電導(dǎo)率和電阻率分析 樣品100%全覆蓋測量 分辨率:50μm *非接觸無損 無需樣品制備 | 載流子遷移率, 散射時(shí)間, 濃度分析 可定制樣品測量面積(m2量級(jí)) 超快測量速度: 12cm2/min 軟件功能豐富,界面友好 全自動(dòng)操作 |
圖1 太赫茲光譜范圍及信噪比
ONYX主要功能
→ 直流電導(dǎo)率(σDC) → 載流子遷移率, μdrift → 直流電阻率, RDC | → 載流子濃度, Ns → 載流子散射時(shí)間,τsc → 表面均勻性 |
ONYX應(yīng)用方向
石墨烯材料: → 單層/多層石墨烯 → 石墨烯溶液 → 摻雜石墨烯 → 石墨烯粉末 → 氧化石墨烯 → SiC外延石墨烯 | 其他二維材料: → PEDOT → Carbon Nanotubes → ITO → NbC → IZO → ALD-ZnO |
石墨烯 | 光伏薄膜材料 | 半導(dǎo)體薄膜 | 電子器件 |
PEDOT | 鎢納米線 | GaN顆粒 | Ag 納米線 |
測試數(shù)據(jù)
1. 10x10mm CVD制備的石墨烯在不同分辨率下的電導(dǎo)率結(jié)果
2.10 x10mm CVD制備的石墨烯不同電學(xué)參數(shù)測量結(jié)果
3.利用ONYX測量ALD沉積在硅基底上的TiN電導(dǎo)率測量結(jié)果
發(fā)表文章
1. P Bogild et al. Mapping the electrical properties of large-area graphene. 2D Mater. 4 (2017) 042003.
2. S Fernández et al. Advanced Graphene-Based Transparent Conductive Electrodes for Photovoltaic Applications. Micromachines 2019, 10, 402.
3. David M. A. Mackenzie et al. Quality assessment of terahertz time-domain spectroscopy transmission and reflection modes for graphene conductivity mapping. OPTICS EXPRESS 9220, Vol. 26, No. 7, 2 Apr 2018.
4. A Cultrera et al. Mapping the conductivity of graphene with Electrical Resistance Tomography. Scientific Reports , (2019) 9:10655
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