分體式涂層測(cè)厚儀TC-220
技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍 | (0～1250) μm（F1、N1測(cè)頭），F10測(cè)頭可達(dá)10mm |
探頭選擇 | F1 N1 F10 多種測(cè)頭可選擇 |
分 辨 率 | 0.1μm (F1、N1測(cè)頭) |
示值精度 | ±(2%H+1) μm; H為被測(cè)涂層厚度 |
顯示方法 | 128*64點(diǎn)陣液晶LCD |
存儲(chǔ)容量 | 可存儲(chǔ)5組（每組zui多100個(gè)測(cè)量值）測(cè)量數(shù)據(jù) |
單 位 制 | 公制（μm）、英制（mil），可自由轉(zhuǎn)換 |
工作電壓 | 3V（2節(jié)5號(hào)堿性電池） |
持續(xù)工作時(shí)間 | 大于200小時(shí)（不開(kāi)背光時(shí)） |
通訊功能 | USB通訊接口，可與PC機(jī)連接、通訊 |
外形尺寸 | 125mm×67mm×31 mm |
整機(jī)重量 | 340g |
三、功能特點(diǎn)：
u 自動(dòng)識(shí)別探頭
u 有多種測(cè)頭類(lèi)型可供選擇，通過(guò)選擇相應(yīng)的測(cè)頭，既可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
u 可選擇使用多種測(cè)頭(F1、N1、F10)；
u 兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
u 兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
u 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)
u 測(cè)頭接觸部件鍍硬鉻或?yàn)榧t寶石，經(jīng)久耐用；
u 可設(shè)定上下限值，測(cè)量結(jié)果大于等于上下限數(shù)值時(shí)，儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)聲音或閃爍燈提示。
u 通過(guò)屏顯或蜂鳴聲對(duì)錯(cuò)誤進(jìn)行提示
u 具有測(cè)頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、一點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能, 并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
u 可選擇配備微機(jī)軟件，具有傳輸測(cè)量結(jié)果、測(cè)值存儲(chǔ)管理、測(cè)值統(tǒng)計(jì)分析、打印測(cè)值報(bào)告等豐富功能；
u 采用鋁制外殼，小巧便攜 堅(jiān)實(shí)耐用，適用于惡劣的操作環(huán)境，具有較強(qiáng)的抗振動(dòng)、沖擊和抗電磁干擾；
四、配置表：
主機(jī) | 1臺(tái) | 標(biāo)準(zhǔn)配置 |
F1 測(cè)頭 | 1個(gè) | |
校準(zhǔn)片 | 5片 | |
鐵基基片 | 1片 | |
電池 | 2節(jié) | |
說(shuō)明書(shū) | 1本 | |
保修卡 合格證 | 1張 | |
螺絲刀 | 1把 | |
數(shù)據(jù)軟件（贈(zèng)送） | 1套 | |
專用儀器箱 | 1個(gè) | |
N1 測(cè)頭 | 可選配置 | |
F1測(cè)頭 | ||
非鐵基基片 | ||
校準(zhǔn)片 |
附圖一：儀器包裝圖
五、附 選配測(cè)頭圖片及技術(shù)參數(shù)：
附 測(cè)頭技術(shù)參數(shù)表：
測(cè)頭型號(hào) | F1 | F10 | N1 | |
工作原理 | 磁 感 應(yīng) | 渦 流 | ||
基體 | 鐵、鋼等磁性金屬 | 非磁性金屬基體 (如銅、鋁、鋅、錫等) | ||
覆蓋層 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層 | 非導(dǎo)電覆蓋層 | ||
(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等) | (如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等) | |||
測(cè)量范圍(mm) | 0～1250 | 0～10000 | 0～1250 | |
低限分辨力(mm) | 0.1 | 10 | 0.1 | |
示值 誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(mm) | ±(3%H+1) | ±(3%H+10) | ±(3%H+1.5) |
二點(diǎn)校準(zhǔn)(mm) | ±((1～3)%H+1) | ±((1～3)%H+10) | ±[(1～3)%H+1.5] | |
測(cè)試 條件 | zui小曲率半徑(mm) | 1.5 | 10 | 3 |
zui小面積的直徑(mm) | F7 | F40 | F5 | |
基體臨界厚度(mm) | 0.5 | 2 | 0.3 | |
