產(chǎn)品介紹
英文名稱:Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test
產(chǎn)品別名:HAST壽命試驗箱,高壓蒸煮試驗箱、HALT、 HAST 試驗箱,高加速溫度和濕度壓力測試箱,HAST CHAMBER,加速老化試驗機(jī),高溫高濕高壓老化箱,加速壽命試驗機(jī),高壓加速老化箱,壽命高加速試驗箱,飽和穩(wěn)態(tài)濕熱試驗箱,HAST測試箱等可靠性試驗設(shè)備。
產(chǎn)品用途:
HAST試驗箱適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗,使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。
應(yīng)用領(lǐng)域:
廣泛用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗。
產(chǎn)品特點:
◆內(nèi)膽采用雙層圓弧設(shè)計,可以防止試驗結(jié)露滴水現(xiàn)象,從而避免產(chǎn)品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結(jié)果。
◆采用7寸真彩式觸摸屏,擁有250組12500段程序,具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能,RS-485通訊接口。
◆采用干濕球傳感器直接測量(控制模式分為:干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式)。
產(chǎn)品參數(shù)
更多型號支持非標(biāo)定制
適用標(biāo)準(zhǔn):GB/T2423.40,IEC60068-2-66,JESD22-A102-D,JESD22-A110-D,JESD22-A118-A
當(dāng)今的技術(shù)正在朝著具有較高漏芯電流的器件的薄型/低幾何尺寸封裝發(fā)展,這會產(chǎn)生內(nèi)部功耗,進(jìn)而將水分從芯片/器件中帶走,
并阻止了與水分相關(guān)的失效機(jī)理的分析。
HAST(高度加速的溫度和濕度應(yīng)力測試)已成為設(shè)備封裝可靠性和鑒定過程的關(guān)鍵部分,它主要用于評估潮濕環(huán)境下非密封包裝設(shè)備的可靠性。這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)置和創(chuàng)建溫度-濕度-壓力的各種條件來完成的,這些條件加速了水分通過外部保護(hù)性塑料封裝的滲透,
并將這些應(yīng)力條件施加到芯片/器件上。
根據(jù)JEDEC JESD22-A110常見測試條件有:130°C / 85%RH / 33.3 psia和 110°C / 85%RH.17.7磅/平方英寸,持續(xù)時間:96或264小時。