CMI243智能厚薄兩用鍍層厚度檢測(cè)儀檢測(cè)電子電鍍層厚度,檢測(cè)鍍金,鍍銀,鍍鎳.鍍鋅,鍍錫等。鍍層厚度要求在陰極表面上分布的均勻性和完整性,是決定鍍層厚度要求質(zhì)量的一個(gè)重要因素,它在一定程度上影響著鍍層厚度要求的防護(hù)性能。在電鍍中常用分散能力和覆蓋能力來分別評(píng)定金屬鍍層厚度要求在陰極上分布的均勻性和完整性。
CMI243智能厚薄兩用鍍層厚度檢測(cè)儀廠家報(bào)價(jià)特點(diǎn):
A.大點(diǎn)陣液晶屏,標(biāo)準(zhǔn)化菜單操作;
B.兩種測(cè)量模式:單次(Single)和連續(xù)(Continuous);
C.兩種組模式:直接組(DIR)和通用組(GEN),一個(gè)直接組和四個(gè)通用組。直接組關(guān)機(jī)后數(shù)據(jù)自動(dòng)全部清除。通用組數(shù)據(jù)將自動(dòng)保存,關(guān)機(jī)不丟失。每組可存儲(chǔ)80個(gè)數(shù)據(jù);
D.可零校準(zhǔn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)(zui多四點(diǎn))。各組有單獨(dú)的零校準(zhǔn)和多點(diǎn)校準(zhǔn),組與組之間不影響;
E.用戶可隨時(shí)查看當(dāng)前工作組已測(cè)得的數(shù)據(jù),并刪除數(shù)據(jù)或整組數(shù)據(jù);
F.實(shí)時(shí)顯示當(dāng)前工作組統(tǒng)計(jì)值:平均值(Mean),zui小值(Min),zui大值(Max),標(biāo)準(zhǔn)方差(Sdev);
G.三種探頭模式: 自動(dòng)(Auto)、磁感應(yīng)(Magnetic)和渦流(Eddy Current);
H.可為各組單獨(dú)設(shè)置高低限報(bào)警值,超*屏幕指示報(bào)警;
I.可開啟或關(guān)閉自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
J.USB接口可傳輸通用組數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)
K.低電和錯(cuò)誤提示
CMI243智能厚薄兩用鍍層厚度檢測(cè)儀廠家報(bào)價(jià)鍍層厚度檢驗(yàn)的基本規(guī)定
1 鍍層厚度檢驗(yàn)的規(guī)定
GB/ T12334 明確規(guī)定零件鍍層厚度為零件“zui小厚度”。即“零件主要表面上任何測(cè)量區(qū)域”“在一個(gè)可測(cè)量的小面積上采用可行的實(shí)驗(yàn)方法得到的可比較的局部厚度”。這個(gè)小面積稱“參比面”,“采用無損檢測(cè)時(shí),應(yīng)將在參比面上測(cè)量的平均值作為局部厚度”。 根據(jù)產(chǎn)品零部件特性,規(guī)定主要表面指產(chǎn)品裝配后容易受到腐蝕、摩擦或工作(導(dǎo)電接觸)的零件表面。通常電鍍條件不易鍍到的表面,如深凹處、孔內(nèi)部一般不作為主要表面。因此測(cè)量時(shí),必須選擇零件主要表面作為測(cè)量區(qū)域,在測(cè)量參比面所測(cè)多點(diǎn)平均值為局部厚度,即zui小厚度。
2 鍍層厚度分布特性
在電鍍過程中,受零件幾何形狀和結(jié)構(gòu)及工藝操作等諸多因素影響,同一零件表面厚度往往是不均勻的。由于電鍍會(huì)產(chǎn)生“邊緣效應(yīng)”特性,即零件中間部位和深凹處、盲孔部位鍍層較薄,而零件邊角和結(jié)構(gòu)突出部位鍍層較厚,有些部位甚至超厚0.5~1倍。同槽電鍍零件鍍層分布也是不均勻的。這給鍍層厚度測(cè)量帶來一定難度。
CMI243智能厚薄兩用鍍層厚度檢測(cè)儀廠家報(bào)價(jià)技術(shù)指標(biāo):
探針類型 | 探針形狀 | 探針型號(hào) | zui小凸面半徑mm | zui小凹面半徑mm | 測(cè)量高度 mm | zui小測(cè)量區(qū)域 mm | zui小識(shí)別直角 mm | 底材zui小厚度mm |
電渦流 | 筆直 | ECP | 11.2 (0.5") | 11.2 (0.44") | 102 (4.0") | 9.2 (0.36") |
| 0.3 (12mils) |
直角 | REP-3 |
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| 14.6 (0.575") | |||
磁感應(yīng) | 筆直 | SMP-2 | 1.6 (0.06") | 6.4 (0.25") | 108 (4.25") | 9.6 (0.375") |
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直角 | RSMP-2 |
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| 20.4 (0.8")
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