產品名稱:LED大功率全自動壽命老化測試系統(tǒng)
產品型號:LM-80
產品簡介:可視窗口 220*180(W*H)MM
內部尺寸(標配) 500*300*300(W*H*D)MM;
外部尺寸(標配) 1580*1520*500(H*W*D)MM;
半導體工作臺的尺寸(標配) 每個單元:153*220(L*W)MM,設備輸入電源功耗 AC38V三項供電設備自身的功耗子8KW(按標準配置)。使用環(huán)境要求 5°C ≤ 環(huán)境溫度 ≤ 35 °C ,使用環(huán)境:安裝在有空調控制和排風抽風裝置,工作臺散熱方式 :風扇制冷。
系統(tǒng)參數包括溫度,濕度,環(huán)境參數:
Ts 溫度范圍 常溫 ~+150°C;
溫度波動度 ±0.5°C;
溫度均勻度 ±1.5°C箱體內氣流 <0.3m/s;
測試容量參數:
溫度偏差 ±0.3°C;
溫度分辨率 0.01°C;
濕度范圍 <65%RH;
獨立工作間測試容量112W,測試功率為6*112W。
測試周期,測試時間 控制參數:
測試周期(小時) 6000小時,7000小時,8000小時,9000小時,10000小時以上;
測試間隔(小時) 1,10,100,1000,2000,3000,4000小時...
系統(tǒng)老化時間設定 設定開/關機的實時時間,格式為2012-07-12 15:02,老化時間分辨率 分鐘,老化產品分組 6,總時間不確定度 ±0.5%。
溫度實時采集,遠程監(jiān)測 系統(tǒng)參數:
系統(tǒng)穩(wěn)定采集通道數 標準配置40通道YOKOGAWA MW100數據采集控制器(40以上選配)高速測量 最短測量周期為10ms,多測量周期 一個主單元可以混合3種測量周期可支持2GB的CF卡。*6(快閃存儲卡),使用2GB的CF卡,在60ch/100ms時可連續(xù)采集數據約10天,60ch/1s時可連續(xù)采集約3個月,穩(wěn)定采集時間分辨率 10ms-500ms,溫度精度 ±0.1°C
電流源系統(tǒng)參數:
通道數 標配40個通道(選配可達1000個);
電流量程 0-1A,0-10A,0-20A以上;
通道間連接方式 通道間可以并聯(lián)以增大電流,分辨率 1mA;
波紋 電壓的紋波噪聲不超過輸出電壓的2%;
老化電流精度 老化測試時輸入電流應控制在額定電流的±3%;
測試電流精度 光學測試時輸入電流應控制在額定電流的±0.5%
電壓表系統(tǒng)參數:電壓量程 0-150V(選配可達400V);分辨率 0.1V。
壽命測試板系統(tǒng)參數:
兼容性良好 可以依據不同尺寸的測試樣品,在一定范圍內調整壽命測試板,夾持樣品;安裝LED 一個壽命測試板可以安裝多顆LED,方便快捷;拆卸要求 :壽命測試板可以安裝于溫度箱,也可以安裝于光度測量系統(tǒng)中,以減小用戶工作量,實現(xiàn)在線測試。測量裝卸 在老化時安裝多顆LED,在光度測量時不需要拆卸LED,可以對固定在壽命測試板上的LED直接進行光度精確測量。