高頻雷達(dá)物位計(jì)價(jià)格，高頻雷達(dá)物位計(jì)報(bào)價(jià)，高頻雷達(dá)物位計(jì)廠家
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產(chǎn)品型號(hào)HJRD35
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地淮安市
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更新時(shí)間：2022-08-02 15:36:20瀏覽次數(shù)：928次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線HJRD35導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)是采用微波技術(shù)來檢測料位的高科技產(chǎn)品，該料位儀利用微波具有穿透性好，對(duì)惡劣環(huán)境及被測物料適應(yīng)性強(qiáng)等特點(diǎn)，采用世界上*的大規(guī)模集成電路，利用雷達(dá)原理、數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)和快速傅里葉變換（FFT）技術(shù)。采用連續(xù)式乍動(dòng)測量，能測量液體、固體（塊狀、粉狀）料位，具有測距遠(yuǎn)、精度高等特點(diǎn)。
1、HJRD35導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)產(chǎn)品概述：
HJRD35導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)是采用微波技術(shù)來檢測料位的高科技產(chǎn)品，該料位儀利用微波具有穿透性好，對(duì)惡劣環(huán)境及被測物料適應(yīng)性強(qiáng)等特點(diǎn)，采用世界上*的大規(guī)模集成電路，利用雷達(dá)原理、數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)和快速傅里葉變換（FFT）技術(shù)。采用連續(xù)式乍動(dòng)測量，能測量液體、固體（塊狀、粉狀）料位，具有測距遠(yuǎn)、精度高等特點(diǎn)。
HJRD35導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)具有低維護(hù)，高性能、高精度、高可靠性，使用壽命長等優(yōu)點(diǎn)。在與電容，重錘等接觸式儀表相比較，具有*的*性。微波信號(hào)的傳輸不受大氣的影響，所以它可以滿足工藝過程中揮發(fā)性氣體、高溫、高壓、蒸汽、真空及高粉塵等惡劣環(huán)境的要求。該產(chǎn)品適用于高溫、高壓、真空、蒸汽、高粉塵及揮發(fā)性氣體等惡劣環(huán)境?？蓪?duì)不同料位進(jìn)行連續(xù)測量。該儀器主要技術(shù)指標(biāo)達(dá)到或優(yōu)于國內(nèi)外同類產(chǎn)品,且安裝調(diào)試簡便，可以單臺(tái)使用，也可組網(wǎng)使用，可廣泛應(yīng)用于冶金、建材、能源、石化、水利、糧食等行業(yè)。
2、HJRD35導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)技術(shù)參數(shù):
應(yīng) 用：腐蝕性液體
測量范圍：桿式6米/纜式20米
過程連接：法蘭
過程溫度：-40~120℃
過程壓力： -0.1~2MPa
精 度：±3mm
頻率范圍：100MHZ~1.8GHZ
防爆等級(jí)：Exib IIC T6 Gb
防護(hù)等級(jí)：IP67
信號(hào)輸出：4—20mA/HART（兩線）
3、HJRD35導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)使用說明：
測量原理
HJRD35導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)是基于時(shí)間行程原理的測量儀表，雷達(dá)波以光速運(yùn)行，運(yùn)行時(shí)間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號(hào)。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜繩傳播，當(dāng)脈沖遇到物料表面時(shí)反射回來被儀表內(nèi)的接收器接收，并將距離信號(hào)轉(zhuǎn)化為物位信號(hào)。
輸入
反射的脈沖信號(hào)沿纜繩傳導(dǎo)至儀表電子線路部分，微處理器對(duì)此信號(hào)進(jìn)行處理，識(shí)別
出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號(hào)識(shí)別由智能軟件完成，距離物料表
面的距離 D 與脈沖的時(shí)間行程 T 成正比： D=C×T/2 其中 C 為光速
因空罐的距離 E 已知，則物位 L 為： L=E-D
輸出
通過輸入空罐高度 E（= 零點(diǎn)），滿罐高度 F（= 滿量程）及一些應(yīng)用參數(shù)來設(shè)定，應(yīng)
用參數(shù)將自動(dòng)使儀表適應(yīng)測量環(huán)境。對(duì)應(yīng)于 4－20mA輸出。
測量范圍
F---- 測量范圍
E---- 空罐距離
B---- 頂部盲區(qū)
K---- 探頭到罐壁的zui小距離
頂部盲區(qū)是指物料zui高料面與測量參考點(diǎn)之間的zui小距離。
底部盲區(qū)是指纜繩zui底部附近無法精確測量的一段距離。
頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測量距離。
注意：
只有物料處于頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間時(shí)，才能保證罐內(nèi)物位的可靠測量。
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