環(huán)境試驗箱,小型環(huán)境試驗箱,環(huán)境試驗[按需定制]
        環(huán)境試驗設(shè)備是模擬各類環(huán)境氣候，運輸、搬運、振動、等條件下，是企業(yè)或機構(gòu)為驗證原材料、半成品、成品質(zhì)量的一種方法。目的是通過使用各種環(huán)境試驗設(shè)備做試驗，來驗證材料和產(chǎn)品是否達到在研發(fā)、設(shè)計、制造中預(yù)期的質(zhì)量目標(biāo)。廣泛用于大專院校、航空、航天、軍事、造船、電工、電子、醫(yī)療、儀器儀表、石油儀表、石油化工、醫(yī)療、汽摩等領(lǐng)域。
       環(huán)境試驗設(shè)備能按IEC、MIL、ISO、GB、GJB等各種標(biāo)準(zhǔn)或用戶要求進行高溫、低溫、溫度沖擊（氣態(tài)及液態(tài)）、浸漬、溫度循環(huán)、低氣壓、高低溫低氣壓、恒定濕熱、交變濕熱、高壓蒸煮、砂塵、耐爆炸、鹽霧腐蝕、氣體腐蝕、霉菌、淋雨、太陽輻射、光老化等

,小型,環(huán)境試驗
環(huán)境試驗的作用
1） 用于產(chǎn)品研究性試驗：
 　　研究性試驗主要用于產(chǎn)品的設(shè)計、研制階段，用于考核所選用的元器件、零部件、設(shè)計結(jié)構(gòu)、采用的工藝等能否滿足實際環(huán)境要求以及存在的問題。為了節(jié)省時間和充分暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)，一般都采用加速環(huán)境試驗方法。 　　
2） 用于產(chǎn)品定型試驗：
 　　定型試驗是用來確定產(chǎn)品能否在預(yù)定的環(huán)境條件下達到規(guī)定設(shè)計技術(shù)指標(biāo)和安全要求。定型試驗是zui全面的試驗，產(chǎn)品可能遇到的環(huán)境因素都必須考慮到。 　　
3） 用于生產(chǎn)檢查試驗：
 　　生產(chǎn)檢查試驗主要用于檢查產(chǎn)品的工藝質(zhì)量及工藝變更時的質(zhì)量穩(wěn)定性。 　　
4） 用于產(chǎn)品的驗收試驗：
 　　驗收試驗是指產(chǎn)品出廠時，為了保證產(chǎn)品質(zhì)量必須進行的一些項目的試驗，驗收試驗通常是抽樣進行的。 　　
5） 用于安全性試驗：
 　　用環(huán)境試驗可以檢查產(chǎn)品是否危害健康及生命問題，用恒加速度來檢查產(chǎn)品安裝、連接的牢固性，以防止在緊急情況下被甩出而造成人身傷亡事故或撞壞其它設(shè)備。安全試驗通常采用較正常試驗更嚴(yán)酷的試驗等級進行。 　　
6） 用于可靠性試驗：
 　　可靠性試驗是由環(huán)境試驗、壽命試驗、現(xiàn)象試驗和特殊試驗等組成，環(huán)境試驗是其中的主要組成部分。美國MIL-ZTD-781D中明確規(guī)定：環(huán)境試驗是可靠性試驗的必要補充內(nèi)容，也是提高產(chǎn)品可靠性的重要手段。

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氣候環(huán)境試驗的分類

A、按環(huán)境試驗形式分類：
1） 自然暴露試驗：
 　　是將樣品*暴露在天然環(huán)境中，它分為加負荷和不加負荷兩種。 　　
2） 現(xiàn)場試驗
 　　為評價、分析產(chǎn)品的可靠性，在使用現(xiàn)場進行的試驗叫現(xiàn)場環(huán)境試驗。 　　
3） 人工模擬試驗
 　　是將樣品放在人工模擬試驗箱中進行的試驗。 　　一般來說，自然暴露試驗和現(xiàn)場試驗?zāi)苷鎸嵎从钞a(chǎn)品在實際使用中的性能和可靠性，也是驗證人工模擬試驗準(zhǔn)確性的基礎(chǔ)，但這二種試驗的不足之處是試驗周期長，花費人力物力大，因此只有對可靠性要求較高的產(chǎn)品才進行這項試驗。而人工模擬試驗是電工電子產(chǎn)品可靠性研究中常見的試驗方法。

B、按環(huán)境試驗性質(zhì)分類
　　IEC（電工委員會）Tc75環(huán)境條件分類委員會于1981年頒布了“環(huán)境參數(shù)分級標(biāo)準(zhǔn)”，具體如下： 　　
1） 氣候環(huán)境因素：
 　　溫度、濕度、壓力、日光輻射、沙塵、雪等。 　　
2） 生物及化學(xué)因素：
 　　鹽霧、霉菌、二氧化硫、硫化氫等。 　　
3） 機械環(huán)境因素：
 　　振動（含正弦、隨機）、碰撞、跌落、搖擺、沖擊等。 　　
4） 綜合環(huán)境因素：
 　　溫度與濕度，溫度與壓力、溫度、濕度與振動等等。

C、按環(huán)境試驗項目分類
　　氣候環(huán)境試驗其項目可分為如下幾項：高溫、低溫、溫度循環(huán)、溫度沖擊、低氣壓、濕熱、日光輻射、砂塵、淋雨等，一般將鹽霧和霉菌試驗包括在其中。
　　在上述試驗項目中又可分為單因素、綜合及組合試驗。

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環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)

　　現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)共有九項： 　　
GB10586-89 濕熱試驗箱技術(shù)條件 　　
GB10587-89 鹽霧試驗箱技術(shù)條件 　　
GB10588-89 長霉試驗箱技術(shù)條件 　　
GB10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件 　　
GB10590-89 低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件 　　
GB10591-89 高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件 　　
GB10592-89 高、低溫試驗箱技術(shù)條件 　　
GB11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件 　　
GB11159-89 低氣壓試驗箱技術(shù)條件

    環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)
GB/T5170.2----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備 　　
GB/T5170.5----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備 　　
GB/T5170.8----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備 　　
GB/T5170.9----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備 　　
GB/T5170.10---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備 　　
GB/T5170.11---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備

    幾種常用的試驗設(shè)備的檢定方法標(biāo)準(zhǔn)
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗方法試驗A：低溫 　　
GB5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備 　　
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗方法試驗B：高溫 　　
GB2423.22 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N：溫度變化試驗方法 　　
GB2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ca：恒定濕熱 　　
GB5170.5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備 　　
GB2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Db：交變濕熱 　　
GB2423.9 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Cb：設(shè)備用恒定濕熱 　　
GB2423.16 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗J：長霉 　　
GB2423.17 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ka：鹽霧 　　
GB5170.8 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備 　　
GB2423.18 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Kb：交變鹽霧 　　
GB2423.19 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法 Kc：接觸點和連接件的二氧化硫試驗
GB5170.11 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法：腐蝕氣體試驗設(shè)備 　　
GB2423.20 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法 Kd：接觸點和連接件硫件氫試驗方法