該NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過(guò)其硅探測(cè)器,準(zhǔn)確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長(zhǎng)。該分析儀包括適合于小光束的狹縫尺寸、近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測(cè)量功能等特征,且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作,非常適合于對(duì)UV、VIS和NIR激光進(jìn)行分析。
- 位置和光束大小達(dá)到亞微米級(jí)精度
- 易于使用的集成軟件包
- 一個(gè)軟件包中包含單個(gè)和多個(gè)光束分析標(biāo)準(zhǔn)
- 可軟件控制的掃描速度(更新率)
- 采用峰值-連接算法用于脈沖光束測(cè)量
- USB2或PCI接口和數(shù)字探頭控制
- 12位數(shù)字化信號(hào)
- 采用ActiveX自動(dòng)化與其他軟件包通信
- 可選硅和鍺掃描頭的功率計(jì)
- 可提供硅、鍺和熱釋電探測(cè)器
產(chǎn)地:美國(guó)
傳感器類型:Silicon
光譜范圍:190-1100 nm
狹縫尺寸:1.8 µm
孔徑尺寸:3.5 mm
光束尺寸:7 µm - 2.3 mm
掃描頭尺寸:83 mm
功率范圍:10 nW - 10 W
通信:USB 2.0
軟件:NanoScan Standard
兼容的光源:CW, Pulsed >25 kHz