一、BTX-II儀器簡(jiǎn)介

       奧林巴斯BTX-II臺(tái)式XRF/XRD分析儀是由美國(guó)Innov-X研發(fā)生產(chǎn)的一款臺(tái)式XRD/XRF設(shè)備，其主要涉及宗旨是對(duì)各種類型的粉末樣品進(jìn)行分析。將某個(gè)樣品的衍射圖案特性與XRD款物圖案數(shù)據(jù)庫(kù)中的圖案相比較，進(jìn)行相位識(shí)別。在相位識(shí)別過(guò)程中，同時(shí)可使用XRF技術(shù)不僅可以方便篩查操作，還可解決罕見的不確定性問(wèn)題。可以說(shuō)，它是XRD 家族中一款的產(chǎn)品，采用的2D-XRD 技術(shù)，與傳統(tǒng)大型臺(tái)式1D-XRD 相比較，具有原理構(gòu)造上的創(chuàng)新，其表現(xiàn)在：

1）奧林巴斯BTX-II臺(tái)式XRF/XRD分析儀采用透射衍射幾何技術(shù)：即X 光束直接穿透樣品，探測(cè)器接收的是透過(guò)樣品的衍射光束而非傳統(tǒng)臺(tái)式機(jī)探測(cè)器接收的反射光束。

2）采用大面積二維CCD 探測(cè)器而非傳統(tǒng)一維計(jì)數(shù)器，探測(cè)面積為1024x 256 pixels，且能同步進(jìn)行XRD 和XRF 信息采集。

3）采用樣品振動(dòng)系統(tǒng)（NASA ），不使用傳統(tǒng)測(cè)角儀，在樣品檢測(cè)過(guò)程中，X 光束和探測(cè)器均靜止不動(dòng)，而所檢測(cè)樣品通過(guò)磁性連鎖裝置高速振動(dòng)，以獲取衍射信息。

二、BTX儀器結(jié)構(gòu)系統(tǒng)

1、X 光管、X 射線準(zhǔn)直器、探測(cè)器、冷卻系統(tǒng)、樣品振動(dòng)系統(tǒng)構(gòu)成了整個(gè)BTX 系統(tǒng)。

2、X 光管為微焦X 射線管，靶材標(biāo)準(zhǔn)配置為Cu或Co，并可根據(jù)檢測(cè)樣品情況選擇使用Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、Wu 等。管電壓為30kV，管電流為0.33mA,功率為10W。低功率管壓保證了射線管長(zhǎng)使用壽命，正常使用至少達(dá)10 年。微焦X射線管保證了X 射線良好的聚焦性。X 射線準(zhǔn)直器采用針孔準(zhǔn)直系統(tǒng)，替代傳統(tǒng)大型臺(tái)式機(jī)的光學(xué)校準(zhǔn)部件，光柵作用*。

3、探測(cè)器采用二維CCD 探測(cè)器，探測(cè)面積1024 x 256 pixels，該探測(cè)器可有效識(shí)別衍射光束和熒光光束，對(duì)能量和位置極度靈敏，可同步進(jìn)行XRD 及XRF 分析。

4、冷卻系統(tǒng)采用Peltier電子制冷，可有效保證探測(cè)器正常工作溫度（-45°C）。5、樣品振動(dòng)系統(tǒng)（NASA ）替代傳統(tǒng)測(cè)角儀，該裝置使得樣品在樣品室中以6000HZ 的頻率振動(dòng)，保證樣品檢測(cè)的多角度，同時(shí)提高檢測(cè)樣品的統(tǒng)計(jì)量。