半導體器件動態(tài)參數測試系統

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產品型號EN-2020A

品牌

廠商性質生產商

所在地西安市

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聯系方式：李想查看聯系方式

更新時間：2018-09-14 16:51:58瀏覽次數：391次

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  IGBT測試儀

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西安誼邦電子科技有限公司

經營模式：生產廠家

商鋪產品：41條

所在地區(qū)：陜西西安市

聯系人：李想（項目經理）

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產品簡介

EN-2020A半導體器件動態(tài)參數測試系統，該系統是針對IGBT器件的開關性特性及IGBT內部續(xù)流二極管的反向恢復特性而專門設計的一套全自動測試系統，適用于電流不超過1500A和集電極電壓不超過3500V的IGBT器件開關時間測試以及正向電流不超過2000A的二極管反向恢復特性的測試。

詳細介紹

基礎規(guī)格

規(guī) 格：1800×800×800（mm）

質量：155Kg

環(huán)境溫度：15～40℃

相對濕度：小于80%

大氣壓力：86Kpa～ 106Kpa

電網電壓：AC220V±10%無嚴重諧波

電網頻率：50Hz±1Hz

參數/條件

	IGBT開通特性測試		IGBT關斷特性測試		測試氣動夾具
測試參數	開通延遲 tdon	10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃	關斷時間tdoff	10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃	壓力： 5000PA的品牌空壓機供氣。控溫范圍： 25℃-200℃ 控溫精度： ±1.0℃±1% 器件接觸： 20個探針的接觸矩陣
	上升時間 tr	10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃	下降時間tf	10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃
	開通能量 Eon	10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃	關斷能量Eoff	10-1000ns±5%±10ns Tj=25℃和125℃
測試條件	集電極電壓Vce	50-3500V±5% 根據用戶要求定制	集電極電壓Vce	50-3500V±5% 根據用戶要求定制
	集電極電流Ice	50-1500V±5% 根據用戶要求定制	集電極電流Ice	50-1500V±5% 根據用戶要求定制
	負載L	20-1000uH	L負載	20-1000uH
	柵極電壓Vge	±15V±3%±0.2V
短路測試Sct		一次短路 / 脈寬10uS / 短路電流10KA
二極管反向恢復測試Drr		反向恢復電流 / 反向時間 / 反向di / dt