西安天光測控技術(shù)有限公司
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詳細(xì)摘要： 熱阻測試系統(tǒng)測試參數(shù)：可測試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的熱特性...
產(chǎn)品型號：ST-Thermal_Zth所在地：西安市更新時(shí)間：2023-09-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 天光測控被動循環(huán)試驗(yàn)臺測試參數(shù)：可測試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器...
產(chǎn)品型號：ST-Thermal_TC所在地：西安市更新時(shí)間：2023-09-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 熱阻測試系統(tǒng)測試參數(shù)：可測試器件穩(wěn)態(tài)熱阻Rth（J-C）散熱：設(shè)備采用水冷散熱，用于測試IC、LED、散熱器、熱管等電子器件的熱特性
產(chǎn)品型號：T3Ster所在地：西安市更新時(shí)間：2021-11-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 穩(wěn)態(tài)熱阻測試系統(tǒng)測試參數(shù)：可測試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的熱...
產(chǎn)品型號：ST-Thermal_X所在地：西安市更新時(shí)間：2019-06-12 在線留言
詳細(xì)摘要： 分鐘級功率循環(huán)試驗(yàn)臺測試范圍：Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的分鐘級...
產(chǎn)品型號：ST-Thermal_PCmin所在地：西安市更新時(shí)間：2019-06-12 在線留言
詳細(xì)摘要： K曲線測試系統(tǒng)測試參數(shù)：可測試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs
產(chǎn)品型號：ST-Thermal_Kcurve所在地：西安市更新時(shí)間：2019-06-12 在線留言
詳細(xì)摘要： 熱阻（抗）測試系統(tǒng)測試參數(shù)：Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs
產(chǎn)品型號：ST-Thermal_RZth所在地：西安市更新時(shí)間：2019-06-12 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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