詳細(xì)介紹
TO薄膜是一種n型半導(dǎo)體材料,具有高的導(dǎo)電率、高的可見光透過率、高的機(jī)械硬度和良好的化學(xué)穩(wěn)定性。它是液晶顯示器(LCD)、等離子顯示器(PDP)、電致發(fā)光顯示器(EL/OLED)、觸摸屏(TouchPanel)、太陽能電池以及其他電子儀表的透明電極常用的薄膜材料。ITO薄膜是一種很薄的金屬薄膜,在透明導(dǎo)電薄膜方面得到普遍的應(yīng)用,具有廣闊的前景。但薄膜的厚度是否均勻直接關(guān)系到企業(yè)的生產(chǎn)成本控制,所以對ITO薄膜厚度的高精度測量,是企業(yè)必須重視的檢測項(xiàng)目之一。
濟(jì)南新準(zhǔn)生產(chǎn)的CHY-C2A測厚儀適用于ITO薄膜厚度測量采用機(jī)械接觸式測量方式,嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性,測試過程中測量頭自動(dòng)升降,有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差,系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)樣,進(jìn)樣步距、測量點(diǎn)數(shù)和進(jìn)樣速度等相關(guān)參數(shù)均可由用戶自行設(shè)定,實(shí)時(shí)顯示測量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù),方便用戶進(jìn)行判斷。
ITO薄膜厚度測量儀 全自動(dòng)膜厚儀臺式測厚儀 技術(shù)指標(biāo)
測試范圍 0~2 mm(常規(guī)) 0~6 mm;12 mm(可選)
分辨率 0.1 μm
測量速度 10 次/min (可調(diào))
測試壓力 17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(紙張)
接觸面積 50 mm2(薄膜);200 mm2(紙張)
注:薄膜、紙張任選一種;非標(biāo)可定制
進(jìn)樣步距 0~1000 mm
進(jìn)樣速度 0.1~99.9 mm/s
電源 AC 220V 50Hz
外形尺寸 461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)
凈重 32 kg
ITO薄膜厚度測量儀 全自動(dòng)膜厚儀臺式測厚儀 產(chǎn)品配置:主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件、專業(yè)軟件、通信電纜、測量頭