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wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品簡介：手持式 4個(gè)LED 晶圓晶片瑕疵檢查

詳細(xì)介紹

wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H簡介
SL8904-H是一款手持式wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈，符合ASTM E 3022等各種國際標(biāo)準(zhǔn)，適用各行的檢測；配有三腳架，解放雙手方便各種測試; 高強(qiáng)度紫外線細(xì)微檢測晶圓表面各種瑕疵，紫外燈的光束輪廓非常均勻，沒有任何足跡顯示LED的陰影，黑點(diǎn)或其他干擾缺陷; SL8904系列具有4個(gè)強(qiáng)大的UV-A（365 nm）LED和6個(gè)側(cè)邊的白光LED，它們使用2個(gè)獨(dú)立的開關(guān)，無需單獨(dú)的手電筒。
wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H

wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H簡介規(guī)格參數(shù)：
型號(hào)： SL8104-H
峰值波長:365 – 370nm;
紫外線強(qiáng)度： 22000uw/cm2，在15英寸距離（相當(dāng)于380mm距離）-可以按照客戶的要求設(shè)計(jì) ;
紫外線燈數(shù)： 4× 5W 365NM UV LED和6個(gè)側(cè)邊白燈， LED平均壽命是30000小時(shí)
電源:交流100-240AC/50H充電器 ;直流聚合物電池組—交流和直流2種供電方式。
照射面積： 120 * 160mm在38厘米距離
紫外線光強(qiáng)的穩(wěn)定性： > 90 ％
產(chǎn)品尺寸： 180 * 190 * 106mm; 凈重： 0.68KG(不含配件）

wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H
(我們掌握了核心技術(shù),我們可以根據(jù)客戶的需求調(diào)整紫外線的強(qiáng)度)

產(chǎn)品型號(hào)	SL8904-H高強(qiáng)度晶圓表面瑕疵檢測燈	備注
LED的數(shù)量和規(guī)格	4顆5瓦日亞NICHIA 365NM UV LED	可以按照客戶的要求定制
LED的數(shù)量和規(guī)格	365NM,395NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意選擇其中的一種波長，特殊要求可以定制黃綠燈（加定制的濾光片）分別是：SL8904-395紫外燈；SL8904-455藍(lán)色燈；SL8904-G綠光檢查燈；SL8904-Y黃光的檢查燈；SL8904-GY黃綠光檢查燈；SL8904-W白光的檢查燈；
側(cè)邊白光燈	6個(gè)LED的白光
檢查燈的亮度（測試距離38.1cm）	21000uw/cm2
照射面積（單位MM）	126*160mm
開關(guān)方式	1個(gè)開關(guān)控制側(cè)邊燈，另外一個(gè)開關(guān)控制檢查燈
使用壽命	30000小時(shí)
供電方式	電量顯示功能，鋰電池組供電，檢查燈連續(xù)使用4小時(shí)，側(cè)邊燈10小時(shí)
尺寸和凈重	材料：ABS+鋁合金材料，尺寸：180190106mm; 凈重：0.68KG 180 * 190 * 106mm; 凈重： 0.68KG
可選配件	三腳架，防護(hù)眼鏡

wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H

SL8904系列產(chǎn)品的簡寫和代號(hào)
SL-8904XX
H代表高強(qiáng)度365NM紫外燈；V代表395NM紫光；
B代表455NM藍(lán)光；G代表525NM綠光；
A代表595NM黃光；R代表625NM紅光；
GY代表510-595NM黃綠光；W代表4000-600K的白光
SL8904AC:使用交流電的，交流電電版本；

wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H特點(diǎn)：
●100 ％固態(tài)冷確保了在強(qiáng)磁場情況下正常工作
●*的機(jī)械冷卻系統(tǒng)可使LED冷卻，以便在長時(shí)間使用時(shí)能保持波長的輸出。
●可同時(shí)使用UV燈和側(cè)邊白光照明功能，使用2個(gè)獨(dú)立的開關(guān)
●極大的覆蓋面積可達(dá)260mm，最小UV-A強(qiáng)度為1,000μW/ cm2
●啟動(dòng)按鈕提供即時(shí)電源，產(chǎn)品使用2個(gè)獨(dú)立開關(guān) – 手柄，方便使用。
●8904系列可以使用三腳架，便于操作和在不同情況下使用
wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H

wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H標(biāo)準(zhǔn)包裝：
紫外燈SL8904，充電器，防水工具包
wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H可選配件：
備用紫外線過濾眼鏡（橙色或黃色）;三腳架

wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H應(yīng)用：
熒光檢測：鋼鐵，有色金屬，汽車，飛機(jī)，熒光滲透探傷，熒光磁粉探傷
污染檢查：電子元器件，電路板，灰塵檢查，LCD面板，進(jìn)入潔凈室所檢查
SL8904-H高強(qiáng)度紫外燈可以用于晶圓表面微粒檢測。晶棒在切割、清洗以及無塵室過程中會(huì)產(chǎn)生particle等都會(huì)對(duì)晶圓表面造成污染，而這些particle等異物在SL8904-H高強(qiáng)度紫外線燈照射下會(huì)發(fā)出熒光，檢查者會(huì)很容易發(fā)現(xiàn)污點(diǎn)，會(huì)大幅度提高晶圓的良品率。國內(nèi)各大芯片封裝廠都使用和采用我們的產(chǎn)品和方案，我們能按照客戶的要求定制各種檢查燈。

關(guān)鍵詞：聚合物電池鋰電池有色金屬電子元器件電路板

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