一、前言

        近年來，隨著人們消費(fèi)意識(shí)的不斷提升，人們對(duì)珠寶首飾的質(zhì)量及真假越來越重視，然而社會(huì)上“假珠寶”、“假黃金”等不良現(xiàn)象時(shí)常發(fā)生，使珠寶首飾商家與消費(fèi)者之間的信任危機(jī)越來越突出，珠寶首飾的檢測(cè)鑒定也越來越受到商家及消費(fèi)者的關(guān)注。西凡科技積極響應(yīng)市場(chǎng)需求，結(jié)合多年的貴金屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)，自主研發(fā)生產(chǎn)出了一系列X射線熒光光譜檢測(cè)儀，可以幫助珠寶首飾商家規(guī)避交易風(fēng)險(xiǎn)，提升自身競(jìng)爭(zhēng)力和社會(huì)形象，從而帶來更多的營業(yè)收入。

貴金屬檢測(cè)儀,測(cè)金儀,金銀檢測(cè)儀

       二、解決方案

       *的金銀首飾無損檢測(cè)方法

       在貴金屬檢測(cè)領(lǐng)域，傳統(tǒng)的分析方法如試金石法、灰吹法、火試金法等都屬于破壞性檢測(cè)，具有消耗性和危險(xiǎn)性，且樣品的制備過程耗時(shí)更長。而X射線熒光光譜法的技術(shù)相對(duì)成熟，可以達(dá)到即時(shí)分析,無損檢測(cè),不需要任何耗材,并且檢測(cè)精度可以達(dá)到小數(shù)點(diǎn)后四位數(shù)，是我國普及型貴金屬檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展方向。西凡科技制造的金銀檢測(cè)儀就是引用X射線熒光光譜檢測(cè)技術(shù)。

       X射線熒光光譜法（XRF）的工作原理是利用X射線激發(fā)被測(cè)物體表面,使得其表面原子發(fā)生能級(jí)躍遷,利用探測(cè)器接收到X射線,然后通過能譜圖對(duì)比分析出元素成份。

X熒光光譜儀工作原理圖

           選擇西凡金銀檢測(cè)儀的四大理由：

          1、無損檢測(cè)

          貴金屬的稀缺與寶貴，讓灰吹法等傳統(tǒng)的破壞性檢測(cè)方法越來越不適用，市場(chǎng)上迫切需要一種快速、準(zhǔn)確、無損的檢測(cè)方法，而X射線熒光光譜法無非是*的貴金屬無損檢測(cè)方法。

          2、規(guī)避交易風(fēng)險(xiǎn)

          社會(huì)上金銀首飾摻假現(xiàn)象時(shí)有發(fā)生，不論是商家還是顧客都為此蒙受巨大的損失，而西凡科技的金銀檢測(cè)儀可以讓金銀首飾的真實(shí)含量準(zhǔn)確呈現(xiàn)，在這種公平公開的市場(chǎng)環(huán)境下，自然可以規(guī)避交易風(fēng)險(xiǎn)。

         3、誠信展現(xiàn)

        金銀首飾的摻假現(xiàn)象，讓顧客對(duì)商家產(chǎn)生了不信任，而商家借助金銀檢測(cè)儀可以將誠信經(jīng)營的形象展現(xiàn)給顧客。

       4、提升競(jìng)爭(zhēng)力

      客戶的信任能給珠寶首飾店帶來更多的營業(yè)收入，從而提升了市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。當(dāng)前國內(nèi)外許多珠寶店都配備有金銀檢測(cè)儀，這也是他們?cè)谛袠I(yè)里能保持強(qiáng)大競(jìng)爭(zhēng)力的原因之一。

         儀器*：金銀檢測(cè)儀EXF8200 貴金屬檢測(cè)儀,測(cè)金儀,金銀檢測(cè)儀

        金銀檢測(cè)儀EXF8200是西凡科技根據(jù)多年的貴金屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)，自主研發(fā)生產(chǎn)的X射線熒光光譜檢測(cè)儀之一，其價(jià)格便宜、操作簡(jiǎn)單、性能突出，可對(duì)各種金銀首飾含量進(jìn)行準(zhǔn)確檢測(cè)，是一款性價(jià)比較高的金銀檢測(cè)儀。

貴金屬檢測(cè)儀 EXF-8200性能特點(diǎn)

精準(zhǔn)： ppm級(jí)精確度，可靠的檢測(cè)數(shù)據(jù)

便捷：集成工業(yè)計(jì)算機(jī)，雙觸摸屏顯示設(shè)計(jì)，操作流暢便捷

快速：3秒內(nèi)可對(duì)樣品定性識(shí)別，60秒內(nèi)可得出測(cè)試結(jié)果

直觀：高清晰圖形即時(shí)顯示，檢測(cè)結(jié)果直觀明了

安全：加裝防輻射裝置，主動(dòng)保護(hù)操作人員安全

經(jīng)濟(jì)：價(jià)格便宜，測(cè)試過程基本不需要任何耗材

貴金屬檢測(cè)儀 EXF-8200技術(shù)參數(shù)

設(shè)備原理：X熒光能量色散

*檢出限：1000ppm

測(cè)量精度：±1000ppm～0.2%

X射線源：Mo靶的X射線光管 風(fēng)冷（*）

擴(kuò)展不確定度：≤0.36%

分析元素：金、銀、銅、鉑、鈀、鎘等元素

探測(cè)器：封閉式正比計(jì)數(shù)管

高壓器：0～50Kv

軟件：菜單式軟件，帶硬件參數(shù)調(diào)整和數(shù)據(jù)評(píng)估及計(jì)算

溫度：-11～46℃

電壓：100～127V或220～240V,50/60Hz

大功率：128W

主體結(jié)構(gòu)：高強(qiáng)度金屬支架+工程塑料外殼

重量：33公斤

尺寸：670*400*330mm

標(biāo)準(zhǔn)配置

主動(dòng)式射線保護(hù)

高壓過壓保護(hù)

光管過熱保護(hù)

全局故障診斷

升降壓預(yù)啟動(dòng)

擴(kuò)展屏(3.2/4.3)

擴(kuò)展線材及輔助支架