MiniTest 740涂層測厚儀技術(shù)詳解：
-**的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術(shù)提升了測量的**性
-測量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò)
SIDSP技術(shù)-*新技術(shù)，智能數(shù)字化的涂層測厚探頭
模擬信號處理時(shí)代已成過去，數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢
MiniTest 740涂層測厚儀 采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱EPK）研發(fā)的，****的涂層測厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的**奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理，這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測量時(shí)，同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭依據(jù)世界**技術(shù)生產(chǎn)。
MiniTest 740涂層測厚儀 的SIDSP工作原理？
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號，回傳的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您**的涂層厚度值。此項(xiàng)**的數(shù)字處理技術(shù)，同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)（手機(jī)網(wǎng)絡(luò)）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機(jī)分析，等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號處理的信號質(zhì)量和**度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢，為涂層測厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。
MiniTest 740涂層測厚儀 為什么選擇SIDSP？
SIDSP探頭具有的抗干擾性
任何與測量相關(guān)的信號，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理。測量信號不會(huì)通過探頭電纜傳輸時(shí)受到干擾，因?yàn)椴辉儆袦y量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有的抗干擾能力。
MiniTest 740涂層測厚儀 SIDSP-測量信號高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點(diǎn)測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果，再次證明了SIDSP探頭的優(yōu)良性能。
MiniTest 740涂層測厚儀高**度的SIDSP探頭特征曲線
在生產(chǎn)過程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴(yán)格的校準(zhǔn)。一般的模擬探頭只會(huì)在特征曲線上選幾個(gè)點(diǎn)來校準(zhǔn)，但SIDSP探頭不同：由于是全自動(dòng)化過程，探頭在50個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行校準(zhǔn)，大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都十分精準(zhǔn)，將測量錯(cuò)誤降至*低。
MiniTest 740涂層測厚儀 SIDSP探頭對溫度變化不敏感
在生產(chǎn)過程中，對每個(gè)SIDSP探頭都進(jìn)行了溫度補(bǔ)償?shù)木幋a，這對于模擬探頭是根本不可能實(shí)現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會(huì)影響測量，與溫度相關(guān)的錯(cuò)誤不會(huì)在SIDSP探頭上發(fā)生！
MiniTest 740涂層測厚儀 SIDSP探頭適應(yīng)性強(qiáng)
需要快速測量幾個(gè)點(diǎn)嗎？只要開啟快速測量模式，探頭自動(dòng)轉(zhuǎn)換到特定設(shè)置。想進(jìn)行高精度測量嗎？沒問題，只要選擇高精度模式，儀器同樣能自動(dòng)轉(zhuǎn)換。不論您要求測量單個(gè)數(shù)值還是連續(xù)測量，SIDSP都能完成您的選擇！
MiniTest 740涂層測厚儀 SIDSP N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補(bǔ)償
由于使用了EPK特殊的自動(dòng)補(bǔ)償方法，SIDSP電渦流探頭可以適應(yīng)多種導(dǎo)電性不同的非鐵基體材料，如銅，鈦，等等，無需特別在基體上校準(zhǔn)儀器。
MiniTest 740涂層測厚儀 SIDSP-未來解決方案
EPK將繼續(xù)改進(jìn)SIDSP技術(shù)以滿足客戶的需求。您可以從EPK的網(wǎng)站進(jìn)行免費(fèi)的軟件升級，使您的SIDSP探頭總是*新版本。
MiniTest 740涂層測厚儀 及SIDSP
新的MiniTest 700產(chǎn)品線，加強(qiáng)了EPK在涂層測厚市場的.
有了新的SIDSP F型探頭（測量鐵基體）和N型探頭（測量非鐵基體），您可享受到高**度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢和便利。新的MiniTest 700可以解決您所有涂層厚度問題，而產(chǎn)品上等的外觀是您長期價(jià)值和成功的關(guān)鍵，比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑，或電鍍等行業(yè)。
MiniTest 740涂層測厚儀 增加了測量速度設(shè)置選項(xiàng)
MINITEST 700可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下，您可以短時(shí)間測量大量數(shù)值；也可以只測量少數(shù)幾個(gè)數(shù)值，但要求精度很高，您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測量值超過您所設(shè)定的極限值時(shí)，儀器會(huì)報(bào)警，保證您即使在快速模式下也不會(huì)錯(cuò)過任何信息。儀器具備聲、光報(bào)警，在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示，超過極限值則用紅色LED燈提示。
MiniTest 740涂層測厚儀 使用簡單方便
MiniTest 700按照人體工學(xué)設(shè)計(jì)，外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性，MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭，方便測量難以到達(dá)的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測量需求：如果您想單手測量，可以選擇內(nèi)置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號都配有一個(gè)超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便您讀取數(shù)據(jù)。
預(yù)設(shè)選項(xiàng)節(jié)省您的時(shí)間和**
所有MiniTest 700探頭都可以對不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無涂層基體上校零時(shí)，整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。為節(jié)省您的時(shí)間和**，儀器預(yù)設(shè)了大量校準(zhǔn)方法，適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)和3點(diǎn)校準(zhǔn)。另外，還有針對不同粗糙程度的粗糙度校準(zhǔn)。FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體類型避免操作者犯錯(cuò)。為適應(yīng)銷售需要，MINITEST 700滿足各種國際標(biāo)準(zhǔn)：SSPC-PA2，ISO，瑞典（SS184160），澳大利亞（AS 3894.3），ISO 19840和ASTM D7091（以前的D1186和D1400）。
MMiniTest 720/730/740涂層測厚儀 優(yōu)點(diǎn)一覽：
-SIDSP使測量不受干擾，測值更加**
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高**度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置： 推薦配件:
帶塑料手提箱，內(nèi)含： -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
-MiniTest 720(內(nèi)置探頭)
--或MiniTest 730（外置探頭）
--或MiniTest 740主機(jī)（不含探頭，有各種探頭可選）
-校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
-操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
-2節(jié)AA電池
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀技術(shù)數(shù)據(jù)表
SIDSP探頭
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探頭
特性 | F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 |
| F | N | F | F | N | F |
| 測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
| 使用范圍 | 小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛 | 厚涂層 |
| 測量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
| 信號處理 | 探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP） |
| **度 | ±（1μm+0.75%讀值） | ±（1.5μm+0.75%讀值） | ±（5μm+0.75%讀值） |
| 重復(fù)性 | ±（0.5μm+0.5%讀值） | ±（0.8μm+0.5%讀值） | ±（2.5μm+0.5%讀值） |
| 低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm |
| *小曲率半徑（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm |
| *小曲率半徑（凹，外置探頭） | 7.5mm | 10mm | 25mm |
| *小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭） | 30mm | 30mm | 30mm |
| *小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm |
| *小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
| 連續(xù)模式下測量速度 | 每秒20個(gè)讀數(shù) |
| 單值模式下*大測量速度 | 每分鐘70個(gè)讀數(shù) |
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀主機(jī)
|
型號
特性 | MiniTest 720 | MiniTest 730 | MiniTest 740 |
| 探頭類型 | 內(nèi)置 | 外置 | 內(nèi)置外置可換 |
| 數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 | 10 | 100 |
| 存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 | *多10,000個(gè) | *多10,000個(gè) | *多100,000個(gè) |
| 統(tǒng)計(jì)值 | 讀值個(gè)數(shù)，*小值，*大值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置） |
| 校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 | ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) |
| 校準(zhǔn)模式 | 出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 |
| 極限值監(jiān)控 | 聲、光報(bào)警提示超過極限 |
| 測量單位 | um，mm，cm；mils，inch，thou |
| 操作溫度 | -10℃-60℃ |
| 存放溫度 | -20℃-70℃ |
| 數(shù)據(jù)接口 | IrDA 1.0（紅外接口） |
| 電源 | 2節(jié)AA電池 |
| 標(biāo)準(zhǔn) | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2 |
| 體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm |
| 重量 | 約175g | 約210g | 約175g（內(nèi)置）/230g（外置） |
會(huì)員1.png)
