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磁場(chǎng)實(shí)驗(yàn)室小型U形電磁鐵可調(diào)磁場(chǎng)發(fā)生器U形結(jié)構(gòu)、視野開闊、磁場(chǎng)強(qiáng)度高、磁場(chǎng)強(qiáng)度大小調(diào)節(jié)方便，可選配工作間隙刻度指示

實(shí)驗(yàn)室雙軛可變氣隙電磁鐵磁場(chǎng)發(fā)生器EMS雙軛水冷式U形結(jié)構(gòu)，電磁鐵的工作氣隙調(diào)節(jié)輕便靈活，極頭處設(shè)有螺紋更換極頭裝卸方便

電輸運(yùn)性質(zhì)測(cè)量系統(tǒng)磁阻變溫電阻測(cè)試電磁鐵電源內(nèi)置高斯計(jì)，磁場(chǎng)從0到1kG只需20S即可控制在0.1G以內(nèi)

半導(dǎo)體測(cè)量實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空磁場(chǎng)環(huán)境探針臺(tái)可選附件：CCD或C-MOS視頻成像裝置

半導(dǎo)體材料測(cè)量探針臺(tái)高低溫真空磁場(chǎng)環(huán)境探針可通過直流或者低頻交流信號(hào)，用來測(cè)試芯片、晶圓片、封裝器件等。

低溫控溫儀實(shí)驗(yàn)室科研、工業(yè)溫度控制器TESK301內(nèi)置了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)恒流電源向電阻溫度計(jì)供電,通過四線法測(cè)量溫度傳感器電壓信號(hào)。

低溫控溫儀實(shí)驗(yàn)室控制儀器0.01K分辨率TESK301內(nèi)置了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)恒流電源向電阻溫度計(jì)供電,通過四線法測(cè)量溫度傳感器電壓信號(hào)。

實(shí)驗(yàn)室磁性材料測(cè)量儀器振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)VSM測(cè)量磁矩范圍（磁極間距30mm時(shí)）：1*10-3emu—300emu（靈敏度：5×10-5emu），相對(duì)精度...

大學(xué)實(shí)驗(yàn)室磁測(cè)量系統(tǒng)FCP磁場(chǎng)控制平臺(tái)可以獨(dú)立的形成用戶所需要的不同磁場(chǎng)強(qiáng)度的可變磁場(chǎng)。

半導(dǎo)體測(cè)量實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)可選配件：各類DC探針、高頻探針、主動(dòng)式探針、電纜線等

半導(dǎo)體測(cè)量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)室溫探針臺(tái)DC9V電源適配器插入220VAC插座，高斯計(jì)即可上電工作，此時(shí)高斯計(jì)前面板紅色指示燈閃爍，液晶屏顯示磁場(chǎng)數(shù)據(jù)。

材料測(cè)量實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)錦正茂高低溫真空探針臺(tái)支持光纖光譜特性測(cè)試，

高低溫真空環(huán)境實(shí)驗(yàn)臺(tái)半導(dǎo)體測(cè)量探針臺(tái)自動(dòng)流量控制，材料/器件的IV/CV特性測(cè)試等。

FCP磁場(chǎng)控制平臺(tái)材料磁性測(cè)量系統(tǒng)錦正茂提供的磁場(chǎng)控制平臺(tái)具有不同的配制用來滿足在磁場(chǎng)強(qiáng)度、磁場(chǎng)均勻性、樣品尺寸、自定義測(cè)量要求等基礎(chǔ)之上的用戶要求。

磁光克爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)磁強(qiáng)計(jì)磁性薄膜研究可以測(cè)量同一樣品不同部位的磁化情況，樣品座有電接口，可加入磁電耦合測(cè)試。

VSM振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)基本磁性能測(cè)量儀器測(cè)量磁矩范圍（磁極間距30mm時(shí)）：1*10-3emu—300emu（靈敏度：5×10-5emu）

實(shí)驗(yàn)室低溫減震導(dǎo)熱帶，紫銅材質(zhì)，柔軟度好，導(dǎo)熱性好，產(chǎn)品平整光亮柔軟度好，編織緊密，光滑無毛刺，中間無間斷，高純無氧銅帶，純度達(dá)到6N即99.9999%。 6N...

主要用于低溫、真空環(huán)境下的磁學(xué)測(cè)量、光學(xué)測(cè)量、光電反應(yīng)、光反射、熒光和磁阻等試驗(yàn)。定制實(shí)驗(yàn)室10K閉循環(huán)恒溫器低溫設(shè)備氦氣

錦正茂科技有限公司所提供的6.5K閉循環(huán)低溫恒溫器是以國內(nèi)和國外公司生產(chǎn)的G-M制冷機(jī)為依托的可變溫低溫平臺(tái)，配合高精度控溫儀使用，可在整個(gè)溫度范圍內(nèi)對(duì)樣品進(jìn)行...

定制探針臺(tái)高低溫真空環(huán)境材料測(cè)量錦正茂高低溫真空探針臺(tái)應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。