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北京普析通用儀器有限責(zé)任公司
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更新時間：2021-11-16 17:24:39瀏覽次數(shù)：300次
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XRF9能量色散X射線熒光分析儀采用薄樣技術(shù)與厚樣技術(shù)相結(jié)合的方式，既可以對大量樣品進行無損檢測，也可以對塊狀固體，固體粉末和液體樣品等進行實驗室級別的元素分析。特別適宜于針對RoHS指令的多元素測試。
XRF9能量色散X射線熒光分析儀采用薄樣技術(shù)與厚樣技術(shù)相結(jié)合的方式，既可以對大量樣品進行無損檢測，也可以對塊狀固體，固體粉末和液體樣品等進行實驗室級別的元素分析。特別適宜于針對RoHS指令的多元素測試。
XRF9能量色散X射線熒光分析儀物理原理
當(dāng)材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子，然而這使原子的電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以*遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此，物質(zhì)放射出的輻射，這是原子的能量特性。
特點：
· 采用多光束可調(diào)節(jié)系統(tǒng)
· 高分辨率探測器
· 采用XYZ三維運動樣品臺
· 大型樣品分析室
· CCD攝像及自動定位系統(tǒng)
· 自動調(diào)節(jié)雙層六通道濾光系統(tǒng)
主要技術(shù)指標(biāo)
分析原理 能量色散X射線熒光分析法
分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）
Na～U(任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型）
檢出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
樣品形狀 大460×380mm(高150mm)
樣品 塑料/金屬/紙/涂料/油墨/液體
樣品室氣氛 大氣
X射線管 靶材 Rh
管電壓 大50KV
管電流 大1mA
X射線照射徑 1/3/5mm
防護 <0.1mR/Hr (輻射低于電腦屏幕）
檢測器 硅SIPIN探測器
光學(xué)圖像觀察 倍率15倍
軟件 定性分析：自動定性（自動去背景/自動剝離重疊峰/自動補償逃逸峰/自動補償譜圖漂移）
照射徑： 1/3/5mm
定量分析： 基礎(chǔ)參數(shù)法/標(biāo)準(zhǔn)法/1點校正
計算機 CPU PentiumIV1.8GHz以上
內(nèi)存 256MB以上
硬盤 20GB以上
OS WindowXP
監(jiān)視器 17寸LCD
周圍溫度 10～35。C（性能溫度）/5～40。C（動作溫度）
周圍濕度 5～31。C時溫度范圍：大相對濕度80%以下
31～40。C時溫度范圍：相對濕度50%以下
電源 AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗電力 1.3KVA以下（含計算機、LCD、打印機）
設(shè)備重量 約65kg(不含桌子、計算機）
外形寸法 600（W）×545（D）×435（H）mm
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