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硬度計(jì)測試儀

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產(chǎn)品型號Equotip 550 Leeb

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更新時間：2024-02-28 14:21:54瀏覽次數(shù)：111次

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產(chǎn)品簡介

Equotip 550 Leeb硬度計(jì)測試儀根據(jù)需要自動轉(zhuǎn)換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）自動更正沖擊方向確保高準(zhǔn)確度 ± 4 HL（硬度為 800 HL 時，準(zhǔn)確度為 0.5%）測量范圍廣泛，可利用各種沖擊裝置和支撐環(huán)來滿足絕大多數(shù)的硬度檢測要求。Equotip 550 Leeb硬度計(jì)測試儀每個沖擊裝置均可使用硬度范圍廣泛和準(zhǔn)確的硬度測試塊，，用于定期驗(yàn)證......

詳細(xì)介紹

Equotip 550 Leeb硬度計(jì)測試儀

Equotip 550 Leeb硬度計(jì)測試儀是便攜式硬度檢測功能齊全的體化解決方案。里氏硬度原理基于動態(tài)（回彈）法，適用于重型、大型或已安裝部件的現(xiàn)場檢測。

結(jié)合 Equotip Portable Rockwell 探頭，Equotip 550 可使用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測法。這將能夠在現(xiàn)場自動將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實(shí)際壓痕硬度值。

新代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業(yè)專精心設(shè)計(jì)的界面，提高了檢測效率和改良用戶體驗(yàn)。改進(jìn)的軟件可提供互動向?qū)А⒆詣域?yàn)證進(jìn)程、個性化選項(xiàng)和自定義報告功能。此外，該儀器可兼容后續(xù)開發(fā)產(chǎn)品。

全彩顯示屏使您能夠執(zhí)行高質(zhì)量的測量和對已測得數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。特殊設(shè)計(jì)的外殼適于惡劣的現(xiàn)場使用環(huán)境。

迄今為止，Proceq 的 Equotip 已經(jīng)成為廣泛認(rèn)可的測量技術(shù)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。 Equotip 裝置滿足眾多行業(yè)對無損硬度檢測的要求。

Equotip Leeb

根據(jù)需要自動轉(zhuǎn)換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）
自動更正沖擊方向確保高準(zhǔn)確度 ± 4 HL（硬度為 800 HL 時，準(zhǔn)確度為 0.5%）
測量范圍廣泛，可利用各種沖擊裝置和支撐環(huán)來滿足絕大多數(shù)的硬度檢測要求。
每個沖擊裝置均可使用硬度范圍廣泛和準(zhǔn)確的硬度測試塊，，用于定期驗(yàn)證。

Equotip 550 Touchscreen Unit

模塊化概念：利用各種型號的探頭和配件靈活配置各種行業(yè)應(yīng)用
組合法：在現(xiàn)場自動將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實(shí)際壓痕硬度值
引導(dǎo)向?qū)В?預(yù)定義工作流以增強(qiáng)進(jìn)程可靠性和提高測量準(zhǔn)確度
自動驗(yàn)證：根據(jù) ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗(yàn)證
互動指南：通過屏幕通知為您的應(yīng)用獲取相關(guān)的設(shè)置
轉(zhuǎn)換曲線：直接在儀器上創(chuàng)建、編輯和驗(yàn)證轉(zhuǎn)換曲線
自定義報告：模塊化報告處理器允許自定義測量報告
自動選項(xiàng)：將 NDT 自動操作集成至質(zhì)量管理系統(tǒng)和自動檢測環(huán)境
外殼經(jīng)過特殊設(shè)計(jì)，可用于嚴(yán)苛的現(xiàn)場環(huán)境 (IP 54)，包括背帶、集成支架和遮陽蓋
高分辨率彩色顯示屏
電池使用時長 > 8h
8 GB 閃存
雙核處理器，支持各種通信接口和外圍接口：探頭連接器、USB 主機(jī)、USB 裝置和以太網(wǎng)
通過直接兼容后續(xù)開發(fā)產(chǎn)品，實(shí)現(xiàn)未來保護(hù)投資

里氏回彈硬度檢測主要用于金屬測量，還可用于復(fù)合材料、橡膠和巖石檢測
合適用于材料挑選、驗(yàn)收和生產(chǎn)環(huán)節(jié)檢測
合適用于重型和大型部件安裝前后的現(xiàn)場檢測
方便用于難進(jìn)入或空間有限的金屬硬度檢測場地

Proceq 提供些附件，例如個測量夾或幾個支撐腳，適合在各種測試件結(jié)構(gòu)上進(jìn)行手動硬度測量

Equotip 550 Leeb硬度計(jì)測試儀標(biāo)準(zhǔn)

ASTM A956 / E140 / A370
ISO EN 16859（即將發(fā)布）
DIN 50156
GB/T 17394
JB/T 9378

Equotip 550 Leeb硬度計(jì)測試儀準(zhǔn)則

ASME CRTD-91
DGZfP Guideline MC 1
VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36

Equotip 550 Leeb硬度計(jì)測試儀:
顯示屏	7" 彩色顯示屏 800 x 480 像素
內(nèi)存	內(nèi)置 8 GB 閃存（可存儲多達(dá) 1000000 個測量值）
區(qū)域設(shè)置	公制和英制單位，支持多種語言和時區(qū)
電池	鋰聚合物，3.6 V、14.0 Ah
電池使用時長	> 8h（標(biāo)準(zhǔn)操作模式下）
電源輸入	12 V +/-25 % / 1.5 A
重量（顯示裝置）	大約 1525 g（含電池）
尺寸	250 x 162 x 62 mm
高海拔	2500 m 海拔高度
濕度	< 95?%RH，非冷凝
操作溫度	0°C 至 30°C（32 至 86°F）（正在充電且儀器正在運(yùn)行） 0°C 至 40°C（32 至 104°F）（正在充電且儀器關(guān)閉） -10°C 至 50°C（14 至 122°F）（未充電）
環(huán)境	適合室內(nèi)與室外使用
IP 等	IP 54
污染等	2
安裝類別	2
Equotip Leeb 沖擊裝置:
測量范圍	1-999 HL
測量精度	± 4 HL（800 HL 時為 0.5 %）
分辨率	1 HL；1 HV；1 HB；0.1 HRA；0.1 HRB； 0.1 HRC；0.1 HS；1 MPa (N/mm2)
沖擊方向	自動補(bǔ)償（DL 探頭除外）
沖擊能量	D、DC、E、S 探頭為 11.5 Nmm DL 探頭為 11.1 Nmm C 探頭為 3.0 Nmm G 探頭為 90.0 Nmm
沖擊體質(zhì)量	D、DC、E、S 探頭為 5.45 克（0.2 盎司） DL 探頭為 7.25 克（0.26 盎司） C 探頭為 3.10 克（0.11 盎司） G 探頭為 20.0 克（0.71 盎司）
球壓頭	C、D、DC 探頭為碳化鎢，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸） DL 探頭為碳化鎢，直徑 2.78 毫米（0.11 英寸） G 探頭為碳化鎢，直徑 5.0 毫米（0.2 英寸） S 探頭為陶瓷，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸） E 探頭為多晶金剛石，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸）
操作溫度	–10?C 至 50?C（14 至 122°F）