METTLER TOLEDO 梅特勒托利多分析天平XPE

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更新時間：2022-09-13 14:03:24瀏覽次數(shù)：116次

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蘇州賽恩斯儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

METTLER TOLEDO 梅特勒托利多分析天平XPE

詳細介紹

METTLER TOLEDO 梅特勒托利多分析天平XPE

性能特點

性能

StaticDetect™ 靜電檢測和靜電消除技術(shù)，加上*的 SmartGrid 網(wǎng)格秤盤為您提供具有重復性的可靠結(jié)果。創(chuàng)新型 StatusLight™ 分析天平就緒指示燈以及利用 TestManager™ 測試管理功能輕松進行日常測試可提高您的質(zhì)量管理且易于合規(guī)。

輕松滿足法規(guī)

StatusLight 狀態(tài)指示燈使用顏色直觀地顯示天平的狀態(tài)：分析天平綠色表示準備就緒，分析天平黃色表示警告，分析天平紅色表示錯誤。 StatusLight 狀態(tài)指示燈清晰地顯示天平是否已準備好開始稱量任務。

狀態(tài)指示燈

分析天平狀態(tài)指示燈清晰地顯示分析天平是否已準備好開始稱量任務。分析天平綠色表示天平準備運行，黃色表示天平應通過 TestManager 連接至日常測試，紅色表示應對天平失去平衡等錯誤立即采取糾正措施。
分析天平觸摸屏，可在 Test-Manager™ 嵌入式軟件中進行 SOP 測試。分析天平無論何時進行測試，分析天平都會在屏幕上顯示消息，您只需遵循分步式指導信息操作即可。

限度地減少靜電荷

我們的 StaticDetect 靜電檢測技術(shù)可檢測樣品或其容器上的靜電荷。如果稱量錯誤超過用戶定義的限值，則出現(xiàn)警告；然后可以采取防靜電措施。為了獲得過程安全性，可鎖定稱量結(jié)果的發(fā)布。

用戶引導過程管理

梅特勒-托利多的 LabX® 實驗室軟件可在分析天平觸摸屏上顯示的靈活的 SOP 用戶指南。分析天平利用自動數(shù)據(jù)處理、計算和報告，具有 LabX 軟件的分析天平可以輕松實現(xiàn)??過程安全性和可追溯性要求，并支持您實現(xiàn)無紙化實驗室。

結(jié)果可靠

超越系列分析天平將獲得的梅特勒-托利多稱量技術(shù)與數(shù)十年的稱量專業(yè)知識相結(jié)合，確保您快速、可靠地獲得的稱量結(jié)果！

無需接觸天平的操作

超越系列分析天平采用人體工程學設(shè)計，旨在盡量使您的生活變得輕松。 SmartSens™ 紅外感應器可使您揮一下手即可進行操作，使稱量任務更加輕松，避免交叉污染問題（例如：打開/關(guān)閉防風罩門）。

易于清潔

分析天平憑借的網(wǎng)格秤盤和可在數(shù)秒鐘內(nèi)拆卸的防風罩，分析天平始終確保稱量區(qū)域清潔、分析天平安全。

基于 RFID 的操作 — 滴定儀

現(xiàn)代化移液器有內(nèi)置的 RFID 芯片，可存儲大量信息：移液器 ID、移液器容量、最后校準日期和下一校準日期等等。利用新的集成 RFID 閱讀器，您可以在幾秒鐘內(nèi)進行檢查，并在天平終端上查看報告全文 — 快速、無誤。

基于 RFID 的操作 — 滴定

在分析天平上安全地輸入滴定樣品信息，并將其輕松地通過滴定燒杯和 SmartSample RFID 標簽傳輸至滴定儀。

每個數(shù)字都重要

在稱量催化劑、酶或高價值電子元件時，分析天平可讀性是提高準確度的一個重要因素。了解更多有關(guān)梅特勒-托利多手動質(zhì)量比較器如何提高工業(yè)應用精確度的信息。

技術(shù)參數(shù)

XPE分析天平型號	分析天平量程[g]	分析天平可讀性 [mg]	分析天平最小稱量值（USP），典型值[mg]	分析天平重復性[mg]	分析天平線性誤差（典型值）
分析天平XPE 105	120.0	0.01	14.0	0.015	0.1
分析天平XPE 204	220.0	0.1	80.0	0.05	0.2
分析天平XPE 205DR	120.0	0.01，0.1	14.0	0.015	0.15
分析天平XPE 205	81.0，220.0	0.01	14.0	0.015	0.1
分析天平XPE 504	520.0	0.1	80.0	0.08	0.4