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步入式老化試驗(yàn)箱

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更新時(shí)間：2023-08-26 20:32:57瀏覽次數(shù)：65次

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步入式老化試驗(yàn)箱-概要：步入式老化試驗(yàn)箱應(yīng)用于國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、自動(dòng)化零組件汽車部件、電子電器件、塑膠、化工、連接器、鋰電池、太陽能光伏組件及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱、耐寒測(cè)試，為產(chǎn)業(yè)界提供大型零件，半成品，成品之大型溫度測(cè)試環(huán)境空間，適合于測(cè)試產(chǎn)品量多、體積大之試驗(yàn)設(shè)備

詳細(xì)介紹

步入式老化試驗(yàn)箱-概要：

步入式老化試驗(yàn)箱應(yīng)用于國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、自動(dòng)化零組件汽車部件、電子電器件、塑膠、化工、連接器、鋰電池、太陽能光伏組件及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱、耐寒測(cè)試，
為產(chǎn)業(yè)界提供大型零件，半成品，成品之大型溫度測(cè)試環(huán)境空間，適合于測(cè)試產(chǎn)品量多、體積大之試驗(yàn)設(shè)備。

步入式老化試驗(yàn)箱特點(diǎn)：
采用特殊之風(fēng)路結(jié)構(gòu)，分布均勻性佳。
采用環(huán)保冷媒，符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。
LCD顯示屏幕，采對(duì)話框形式，操作簡(jiǎn)單，美觀大方。
具備安全保護(hù)裝置及停電記憶。
故障發(fā)生時(shí)，顯示故障之原因，幫助故障排除。
可連接電腦，記錄器(選配)。
步入式老化試驗(yàn)箱規(guī)格/SPEC：

型號(hào)	THR—容積(低溫選擇：A～C)依客戶空間尺寸大小而設(shè)計(jì)
溫度范圍	低溫：A：0℃；B：-20℃；C：-40℃D:-60℃／高溫：80℃
控制方式	微電腦PID+SSR+Timer
濕度范圍	20％-98％R．H(特殊要求：5％～98％RH；10％～98％RH：20％～98％RH)
溫濕度曲線圖
可按客戶要求非標(biāo)訂制，艾思荔生產(chǎn)廠家
溫度波動(dòng)度	±0.5℃
溫濕度偏差	±2℃±3%RH(>75%RH)±5%RH(≤75%RH)
升溫時(shí)間	3~5℃/min
降溫時(shí)間	0.7~1.3℃/min（可選購）
結(jié)構(gòu)材質(zhì)	內(nèi)箱:SUS304不銹剛，外箱：SUS304#不銹剛／彩鋼板，保溫層：PU發(fā)泡＋超細(xì)玻璃棉．
冷凍系統(tǒng)	風(fēng)冷式歐美全（半）封閉壓縮機(jī)組，散熱片式蒸發(fā)器(根據(jù)具體情況選購水冷機(jī)組)
加熱系統(tǒng)	不銹鋼鰭片式加熱管加熱空氣方式
保護(hù)裝置	過載保護(hù)，壓縮機(jī)過熱，過流，超壓，加熱，干燒，箱內(nèi)超濕警報(bào)系統(tǒng)．
標(biāo)準(zhǔn)配置	真空雙層觀察視窗，視窗燈，測(cè)試孔?50*1只，超溫保護(hù)器

步入式老化試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)：
1.進(jìn)口可編程觸摸式液晶中文對(duì)話式顯示，微電腦集成控制器
2.溫濕度顯示控制儀表采用（日本）全進(jìn)口超大屏幕畫面（5.7寸LED顯示器），熒幕操作簡(jiǎn)單，程序編輯容易，無須按鍵輸入，屏幕直接觸摸選項(xiàng)。精度：0.1℃（顯示范圍）
3.分辨率：±0.1℃；
4.感溫傳感器：PT100鉑金電阻測(cè)溫體；
5.控制方式：熱平衡調(diào)溫調(diào)濕方式；所有電器均采用（施耐德）系列產(chǎn)品
6.溫濕度控制采用P.I.D+S.S.R系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制
7.具有自動(dòng)演算的功能，可將溫濕度變化條件立即修正，使溫濕度控制更為精確穩(wěn)定
8.控制器操作界面設(shè)中英文可供選擇，實(shí)時(shí)運(yùn)轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示
9.具有10組程序、每組100段、每段可循環(huán)999步驟的容量，每段時(shí)間設(shè)定*大值為99小時(shí)59分
10.資料及試驗(yàn)條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機(jī)
11.具有RS-232或RS-485通訊界面，可在電腦上設(shè)計(jì)程序，監(jiān)視試驗(yàn)過程并執(zhí)行自動(dòng)開關(guān)機(jī)、打印曲線數(shù)據(jù)等功能
12.控制器具有熒屏自動(dòng)屏保功能，在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行狀態(tài)下更好的保護(hù)液晶屏（使其壽命更長(zhǎng)久）
13.在運(yùn)轉(zhuǎn)或設(shè)定中，如發(fā)生錯(cuò)誤時(shí)，會(huì)提供警示迅號(hào)

步入式老化試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：
GB10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2006低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2006高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB11158-2006高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1)試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-2001(IEC68-2-2)試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法。
GB2423.3-93(IEC68-2-3)試驗(yàn)Ca恒定濕熱試驗(yàn)方法。
GJB360.8-87(MIL-STD-202F)高溫壽命試驗(yàn)。
GJBl50.3-86(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。
GJBl50.4-86(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。
GJBl50.9-93(MIL-STD-810D)濕熱試驗(yàn)方法。
GB/T2423.3-1993試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)（僅濕熱型）
GB/T2423.4-1993試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)（僅濕熱型）
GJB150.9-1986濕熱試驗(yàn)（圖1），僅濕熱型）
GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備