產(chǎn)品詳情:
臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級。
我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察"為理念,開發(fā)出TM4000系列。在此基礎(chǔ)上,我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。
為您提供全新的觀察和分析應(yīng)用。
產(chǎn)品特點:
觀察圖像3分鐘??裳杆佾@得所需數(shù)據(jù),并制作報告。
|| 觀察與分析的靈活性
自動獲取各類數(shù)據(jù)??焖偾袚Q!
可快速獲得元素分布圖*2
*1 TM4000PlusⅡ的功能。
*2 選配
|| 使用Camera Navi*的話,就是如此簡單
Camera Navi圖像讓您輕松找到視野,分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察
* 選配:Camera Navi系統(tǒng)
|| 操作簡單且快捷
觀察圖像只需 3 分鐘。
可快速觀察圖像,并導(dǎo)出測試報告。
|| Report Creator可讓您輕松制作報告
只需選擇圖像和模板,就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報告
|| 即便是絕緣物樣品,也無需預(yù)處理,就可直接進行觀察。
“靜電減輕模式"可抑制靜電現(xiàn)象
對于容易產(chǎn)生靜電的樣品,可使用“靜電減輕模式",在抑制靜電的狀態(tài)下進行觀察。
只需用鼠標在軟件上點擊即可切換到“靜電減輕模式"。
|| 可在低真空的條件下進行多種觀察
對于容易產(chǎn)生靜電的粉末或含水等樣品,可結(jié)合其目的進行觀察。
|| 可在低真空的條件下進行二次電子像(表面形狀)觀察。
無需預(yù)處理,也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面
不僅是觀察傳統(tǒng)的導(dǎo)電性樣品,還可以在無預(yù)處理的條件下觀察絕緣物和含水、含油樣品??煽焖龠M行二次電子像與背散射電子像之間的切換。
|| 高感度低真空二次電子檢測器
采用高感度低真空二次電子檢測器(UVD)。通過檢測由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產(chǎn)生的光,可以觀察帶有二次電子信息的圖像。此外,通過控制該檢測器,來檢測電子照射所產(chǎn)生的光,可以獲得CL信息(UVD-CL:帶有CL信息的圖像)。
|| 可支持加速電壓20 kV
TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。
憑借EDS分析(選配),可進行更高計數(shù)率解析。
|| 通過加速電壓20 kV,實現(xiàn)EDS元素分布圖的高S/N化
|| Multi Zigzag(選配)
可實現(xiàn)在廣域范圍內(nèi)進行SEM觀察。
搭配自動馬達臺,可實現(xiàn)低倍率,高精度,大范圍的觀察分析。
|| EM 樣品臺(選配)
|| 可輕松觀察 STEM 圖像
與全新開發(fā)的 STEM 樣品臺和高靈敏度低真空二次電子檢測器(UVD)配合使用,可輕松觀察小倍率 STEM 圖像。
可輕松觀察薄膜樣品和生物樣品.
|| 產(chǎn)品規(guī)格: