環(huán)先生
PCT飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱(又名PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī))
主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試,
濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?,或封裝體引腳間因污染造成短路等。
-產(chǎn)品簡(jiǎn)介
1.試驗(yàn)箱采用最新優(yōu)化設(shè)計(jì),美觀大方,做工精細(xì)。
2.采用大容量水箱,試驗(yàn)時(shí)間長(zhǎng),不中斷。
3.采用日本“SHIMAX"智能溫控器,具有精度高,控制穩(wěn)定特點(diǎn)(依客戶需要也可選擇采用觸摸屏為4.3寸真彩屏,USB曲線數(shù)據(jù)下載功能,和通訊功能)。
-產(chǎn)品應(yīng)用
廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),測(cè)試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等),加快試驗(yàn)過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。
-規(guī)范要求
PCT飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì),復(fù)合國(guó)家安全容器標(biāo)準(zhǔn),可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象,從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過(guò)程中受過(guò)熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。配備雙層不銹鋼產(chǎn)品架,也可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格尺寸免費(fèi)量身定制專用產(chǎn)品架。
-安全保護(hù)裝置
A、誤操作安全裝置:高壓加速老化試驗(yàn)箱鍋門若未關(guān)緊則機(jī)器無(wú)法啟動(dòng).
B、超壓安全保護(hù):當(dāng)鍋內(nèi)壓力超過(guò)最大工作值自動(dòng)排氣泄壓.
C、超溫保護(hù):當(dāng)鍋內(nèi)溫度過(guò)高時(shí)機(jī)器鳴叫警報(bào)并自動(dòng)切斷加熱電源.
D、防燙傷保護(hù):特制材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷.
E、手動(dòng)安全保護(hù)排壓伐.
-半導(dǎo)體測(cè)試
PCT試驗(yàn)箱對(duì)半導(dǎo)體的PCT測(cè)試:PCT最主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰Γ郎y(cè)品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測(cè)試,如果半導(dǎo)體封裝的不好,
濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中,常見(jiàn)的故裝原因:爆米花效應(yīng)、動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦贰⒎庋b體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問(wèn)題。