X 射線熒光測量系統(tǒng)，非接觸涂層測厚儀，用于在光滑和壓印（包括帶有鑄模接觸面）的軸帶生產(chǎn)過程中，在線涂層測厚儀，進(jìn)行連續(xù)的在線測量和分析
特點
- 用于在持續(xù)生產(chǎn)過程中對薄膜、軸帶和沖壓帶上的涂鍍層進(jìn)行連續(xù)測量
- 可按照樣品運動方向正確調(diào)整測量頭的角度
- 操作簡單，電鍍層測厚儀，設(shè)置時間短
- X射線探測器可以為比例計數(shù)管，x熒光涂層測厚儀，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探測器
- 有定位裝置，phynix涂層測厚儀，用于測量多個位置進(jìn)行測量
- 根據(jù)客戶需要專門設(shè)計
- 自動校準(zhǔn)
- 可以快速地從一條生產(chǎn)線上轉(zhuǎn)移到另一條生產(chǎn)線
- 可方便地集成到質(zhì)量控制系統(tǒng)和過程控制系統(tǒng)中
典型應(yīng)用領(lǐng)域
- 電鍍條帶，涂層測厚儀檢定，例如接觸點、沖壓帶
- 測量熱鍍鋅鋼帶
- 太陽能薄膜電池（光伏產(chǎn)業(yè)
- 薄膜和條帶上的金屬涂鍍層
- 電子工業(yè)及其供應(yīng)商
- 生產(chǎn)過程監(jiān)控
