產(chǎn)品展示
MZUV-A紫外輻照計
【簡單介紹】
【詳細(xì)說明】
該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
主要性能指標(biāo):
* 波長范圍及峰值波長 (二者擇其一)
(1)UV-365探頭(光譜響應(yīng)曲線見圖)
λ:(320~400)nm; λP=365nm
(2)UV-420探頭(光譜響應(yīng)曲線見圖)
λ:(375~475)nm; λP=420nm
* 輻照度測量范圍
(0.1~199.9×103)μW/cm2
* 紫外帶外區(qū)雜光
UV365 小于0.02%
UV420 小于0.02%
* 準(zhǔn)確度
±10%
* 響應(yīng)時間
1秒
* 使用環(huán)境
溫度(0~40)℃;濕度<85%RH
* 尺寸和重量
180mm×80mm×36mm;0.2kg
* 電源
9V積層電池一只
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