步入式高低溫交變試驗室|步入式高低溫環(huán)境試驗室
       環(huán)境試驗設備是模擬各類環(huán)境氣候，運輸、搬運、振動、等條件下，是企業(yè)或機構為驗證原材料、半成品、成品質(zhì)量的一種方法。目的是通過使用各種環(huán)境試驗設備做試驗，來驗證材料和產(chǎn)品是否達到在研發(fā)、設計、制造中預期的質(zhì)量目標。廣泛用于大專院校、hang空、航天、軍事、造船、電工、電子、醫(yī)療、儀器儀表、石油儀表、石油化工、醫(yī)療、汽摩等領域。
        環(huán)境試驗設備能按IEC、MIL、ISO、GB、GJB等各種標準或用戶要求進行高溫、低溫、溫度沖擊（氣態(tài)及液態(tài)）、浸漬、溫度循環(huán)、低氣壓、高低溫低氣壓、恒定濕熱、交變濕熱、高壓蒸煮、砂塵、耐爆炸、鹽霧腐蝕、氣體腐蝕、霉菌、淋雨、太陽輻射、光老化等

步入式高低溫交變試驗室|步入式高低溫環(huán)境試驗室
氣候環(huán)境試驗的分類

A、按環(huán)境試驗形式分類：
1） 自然暴露試驗：
 　　是將樣品*暴露在天然環(huán)境中，它分為加負荷和不加負荷兩種。 　　
2） 現(xiàn)場試驗
 　　為評價、分析產(chǎn)品的可靠性，在使用現(xiàn)場進行的試驗叫現(xiàn)場環(huán)境試驗。 　　
3） 人工模擬試驗
 　　是將樣品放在人工模擬試驗箱中進行的試驗。 　　一般來說，自然暴露試驗和現(xiàn)場試驗能真實反映產(chǎn)品在實際使用中的性能和可靠性，也是驗證人工模擬試驗準確性的基礎，但這二種試驗的不足之處是試驗周期長，花費人力物力大，因此只有對可靠性要求較高的產(chǎn)品才進行這項試驗。而人工模擬試驗是電工電子產(chǎn)品可靠性研究中常見的試驗方法。

B、按環(huán)境試驗性質(zhì)分類
IEC（電工委員會）Tc75環(huán)境條件分類委員會于1981年頒布了“環(huán)境參數(shù)分級標準"，具體如下： 　　
1） 氣候環(huán)境因素：
 　　溫度、濕度、壓力、日光輻射、沙塵、雪等。 　　
2） 生物及化學因素：
 　　鹽霧、霉菌、二氧化硫、硫化氫等。 　　
3） 機械環(huán)境因素：
 　　振動（含正弦、隨機）、碰撞、跌落、搖擺、沖擊等。 　　
4） 綜合環(huán)境因素：
 　　溫度與濕度，溫度與壓力、溫度、濕度與振動等等。

C、按環(huán)境試驗項目分類
氣候環(huán)境試驗其項目可分為如下幾項：高溫、低溫、溫度循環(huán)、溫度沖擊、低氣壓、濕熱、日光輻射、砂塵、淋雨等，一般將鹽霧和霉菌試驗包括在其中。
在上述試驗項目中又可分為單因素、綜合及組合試驗。

環(huán)境試驗的作用
1） 用于產(chǎn)品研究性試驗：
 　　研究性試驗主要用于產(chǎn)品的設計、研制階段，用于考核所選用的元器件、零部件、設計結(jié)構、采用的工藝等能否滿足實際環(huán)境要求以及存在的問題。為了節(jié)省時間和充分暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)，一般都采用加速環(huán)境試驗方法。 　　
2） 用于產(chǎn)品定型試驗：
 　　定型試驗是用來確定產(chǎn)品能否在預定的環(huán)境條件下達到規(guī)定設計技術指標和安全要求。定型試驗是zui全面的試驗，產(chǎn)品可能遇到的環(huán)境因素都必須考慮到。 　　
3） 用于生產(chǎn)檢查試驗：
 　　生產(chǎn)檢查試驗主要用于檢查產(chǎn)品的工藝質(zhì)量及工藝變更時的質(zhì)量穩(wěn)定性。 　　
4） 用于產(chǎn)品的驗收試驗：
 　　驗收試驗是指產(chǎn)品出廠時，為了保證產(chǎn)品質(zhì)量必須進行的一些項目的試驗，驗收試驗通常是抽樣進行的。 　　
5） 用于安全性試驗：
 　　用環(huán)境試驗可以檢查產(chǎn)品是否危害健康及生命問題，用恒加速度來檢查產(chǎn)品安裝、連接的牢固性，以防止在緊急情況下被甩出而造成人身傷亡事故或撞壞其它設備。安全試驗通常采用較正常試驗更嚴酷的試驗等級進行。 　　
6） 用于可靠性試驗：
 　　可靠性試驗是由環(huán)境試驗、壽命試驗、現(xiàn)象試驗和特殊試驗等組成，環(huán)境試驗是其中的主要組成部分。美國MIL-ZTD-781D中明確規(guī)定：環(huán)境試驗是可靠性試驗的必要補充內(nèi)容，也是提高產(chǎn)品可靠性的重要手段。

環(huán)境試驗設備標準

　　現(xiàn)行環(huán)境試驗設備標準共有九項： 　　
GB10586-89 濕熱試驗箱技術條件 　　
GB10587-89 鹽霧試驗箱技術條件 　　
GB10588-89 長霉試驗箱技術條件 　　
GB10589-89 低溫試驗箱技術條件 　　
GB10590-89 低溫/低氣壓試驗箱技術條件 　　
GB10591-89 高溫/低氣壓試驗箱技術條件 　　
GB10592-89 高、低溫試驗箱技術條件 　　
GB11158-89 高溫試驗箱技術條件 　　
GB11159-89 低氣壓試驗箱技術條件

    環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法標準
GB/T5170.2----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設備 　　
GB/T5170.5----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設備 　　
GB/T5170.8----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設備 　　
GB/T5170.9----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設備 　　
GB/T5170.10---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設備 　　
GB/T5170.11---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設備

    幾種常用的試驗設備的檢定方法標準
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗方法試驗A：低溫 　　
GB5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設備 　　
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗方法試驗B：高溫 　　
GB2423.22 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N：溫度變化試驗方法 　　
GB2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ca：恒定濕熱 　　
GB5170.5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設備 　　
GB2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Db：交變濕熱 　　
GB2423.9 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Cb：設備用恒定濕熱 　　
GB2423.16 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗J：長霉 　　
GB2423.17 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ka：鹽霧 　　
GB5170.8 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設備 　　
GB2423.18 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Kb：交變鹽霧 　　
GB2423.19 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法 Kc：接觸點和連接件的二氧化硫試驗
GB5170.11 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法：腐蝕氣體試驗設備 　　
GB2423.20 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法 Kd：接觸點和連接件硫件氫試驗方法