平行平晶:是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差。平行平晶據(jù)有高精度的平面性和平行性。
平行平晶:用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。
?
測量面上平面度偏差: <0.1μm>0.1μm>
平面度局部偏差: ?>0.03μm
測量面平行度誤差:?組Ⅰ系列允差值:0.06μm
????????????????????????????? 組Ⅱ、Ⅲ系列允差值:0.08μm
????????????????????????????? 組Ⅳ系列允差值:0.1μm
組Ⅰ | 平行平晶 | 0-25mm | 4塊/組 |
組Ⅱ | 平行平晶 | 25-50mm | 4塊/組 |
組Ⅲ | 平行平晶 | 50-75mm | 4塊/組 |
組Ⅳ | 平行平晶 | <> |
相關(guān)產(chǎn)品: |
|