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產(chǎn)品型號(hào)FE-5000/5000S
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地
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更新時(shí)間：2022-11-13 15:38:11瀏覽次數(shù)：209次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線橢圓偏振法測(cè)量當(dāng)線性偏振光照射到樣品時(shí)反射光（橢圓偏振）時(shí)偏振的變化。 當(dāng)s和p波根據(jù)樣本分別改變其相位和反射幅度時(shí)，可以獲得量化偏振變化的幅度比“tanψ"和相位差“cosΔ"。 tanψ，cosΔ稱為“橢圓參數(shù)"，其光譜通過“光譜橢偏儀"進(jìn)行測(cè)量。Otsuka FE-5000/5000S膜厚測(cè)量?jī)x除了基本的光譜橢圓儀系統(tǒng)外，自動(dòng)角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)還可以針對(duì)各種厚度進(jìn)行高精度的膜厚測(cè)量。 可拆卸的緩速......
嵌入式膜厚儀-橢偏儀-膜厚測(cè)量?jī)x-橢圓偏振光譜儀 產(chǎn)品描述：
嵌入式膜厚儀-橢偏儀-膜厚測(cè)量?jī)x-橢圓偏振光譜儀 是測(cè)量當(dāng)線性偏振光照射到樣品時(shí)反射光（橢圓偏振）時(shí)偏振的變化。當(dāng)s和p波根據(jù)樣本分別改變其相位和反射幅度時(shí)，可以獲得量化偏振變化的幅度比“tanψ"和相位差“cosΔ"。 tanψ，cosΔ稱為“橢圓參數(shù)"，其光譜通過“光譜橢偏儀"進(jìn)行測(cè)量。Otsuka FE-5000/5000S膜厚測(cè)量?jī)x除了基本的光譜橢圓儀系統(tǒng)外，自動(dòng)角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)還可以針對(duì)各種厚度進(jìn)行高精度的膜厚測(cè)量。 可拆卸的緩速器和旋轉(zhuǎn)分析儀還拓寬了可供測(cè)量的選擇范圍，并提高了測(cè)量精度。測(cè)量范圍包括：橢圓參數(shù)（tanψ，cosΔ），光學(xué)常數(shù)分析（和：折射率，k：消光系數(shù)），厚度分析。
產(chǎn)品亮點(diǎn)：
應(yīng)用范圍：
技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量案例：
使用梯度模型進(jìn)行ITO結(jié)構(gòu)分析—應(yīng)用FE0006。ITO（銦錫氧化物）是用于LCD顯示器等平面顯示器的透明電極材料。 ITO的成膜后，通過退火處理（熱處理），可以提高ITO的導(dǎo)電性和色相。 那時(shí)，ITO的氧狀態(tài)和結(jié)晶狀態(tài)將發(fā)生變化。 該變化趨于相對(duì)于膜厚度逐步獲得斜率變化，并且它不會(huì)變成光學(xué)組成均一的單層。 我們想介紹一種使用梯度模型來測(cè)量上下表面nk的傾斜度的情況。
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