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Coat Analyzer離線涂層測(cè)厚儀

Coat Analyzer 離線涂層測(cè)厚儀由德國(guó)AIM Systems有限公司研發(fā)生產(chǎn)，采用光熱紅外法技術(shù)原理，可用于實(shí)驗(yàn)室或者工業(yè)產(chǎn)品涂層厚度的離線測(cè)量，其組成包括測(cè)厚儀，支架，電腦以及測(cè)量軟件。

光熱紅外探測(cè)法基本原理：

待測(cè)樣品在調(diào)制光源的激勵(lì)下吸收了光輻射的能量，產(chǎn)生紅外熱輻射即熱波，由于待測(cè)樣品內(nèi)部的多層結(jié)構(gòu)或者自身缺陷而存在分界面特性的差異，導(dǎo)致紅外熱波在通過(guò)分界面時(shí)波形發(fā)生變化，不同層狀結(jié)構(gòu)厚度以及樣品缺陷形貌對(duì)熱波波形變化有不同的影響，通過(guò)探測(cè)反射熱波形的隨時(shí)間變化及相對(duì)激發(fā)光信號(hào)的延遲可以分析得到待測(cè)樣品層狀結(jié)構(gòu)以及缺陷形貌尺寸的信息。

技術(shù)參數(shù)：
- 測(cè)量范圍：3-300微米

- 工作距離：100 ± 30 毫米

- 距離容差：± 50毫米

- 允許探測(cè)角度：± 60°

- 測(cè)量時(shí)間： 1-2秒/點(diǎn)

技術(shù)優(yōu)勢(shì)：
- 無(wú)損無(wú)接觸測(cè)量
- 適用范圍廣：
適用于不同材料上的不同涂層的干膜和濕膜厚度測(cè)量，
可測(cè)量的基材材質(zhì)不限（金屬、塑料、橡膠、復(fù)合材料等)，
可測(cè)量的涂料種類(lèi)不限（油漆、粉末涂料、粘膠劑、潤(rùn)滑涂層等）
可測(cè)量的涂裝工藝不限