深圳市科時達電子科技有限公司
詳細摘要： 德國Sentech集成等離子刻蝕和沉積的多腔系統(tǒng)研發(fā)三到六個端口傳送腔室可用于集成ICP等離子刻蝕機、RIE刻蝕機、原子層沉積系統(tǒng)、PECVD和ICPECVD沉...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 德國DienerPECVD等離子體化學氣相沉積設備該PECVD系統(tǒng)可以沉積高質量SiO2薄膜、Si3N4薄膜、類金剛石薄膜、硬質薄膜、光學薄膜等
產(chǎn)品型號：TETRA240所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 超低溫磁場探針臺半自動真空低溫探針臺使晶圓和器件在低溫下9k(singleCCR系統(tǒng))、4.5K(dualCCR系統(tǒng))甚至低于4K(tripleCCR系統(tǒng))的情...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 適用于多種晶圓量測應用?模塊量測-DC-IV
產(chǎn)品型號：TS3500 Probe System所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： TS3000ProbeSystem半自動300mm探針臺測試系統(tǒng)?模塊量測-DC-IV/DC-CV/Pulsed-IV?高溫度范圍-60°C至300°C?大的靈...
產(chǎn)品型號：TS3000 Probe System所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 霍爾效應測試系統(tǒng)HEMS測量包括：?遷移率測試?DCHEMS:10^6cm2/Vsto10cm2/Vs?ACHEMS:10cm2/Vsto0
產(chǎn)品型號：HEMS所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 振動樣品磁強計VSM振動樣品磁強計VSM?振動頭振動頻率(校準):1-100Hz?VSM振蕩幅度范圍：0.1mm-5mm?大樣品直徑：6mm?適用于液體、粉末、...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 霍爾效應測試系統(tǒng)EzHEMS?電阻率測量范圍:10-4-109?·cm(取決于樣本)?遷移率:1-107cm2/V·S(取決于樣本)?載流子濃度:107-102...
產(chǎn)品型號：EzHEMS所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： TS2000-HPProbeSystem半自動化探針臺測試系統(tǒng)MPI的TS2000-HP半自動化探針臺測試系統(tǒng)可提供8英寸及以下晶圓器件的高功率測量，*的Shi...
產(chǎn)品型號：TS2000-HP Probe System所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 適用于多種晶圓量測應用，?如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓可靠性(WLR)和失效分析(FA)MPIShielDEnvironment™屏蔽環(huán)...
產(chǎn)品型號：TS200-SE Probe System所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 布魯克Bruker三維光學輪廓儀ContourX-500ContourX-500光學輪廓儀是功能面的自動化臺式系統(tǒng)，可快速完成非接觸式三維表面計量
產(chǎn)品型號：ContourX-500所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： ThermoScientificIntegrion高壓離子色譜耐壓zui高的離子色譜泵
產(chǎn)品型號：Integrion所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 布魯克Bruker三維光學輪廓儀ContourGT-XContourGT-X三維光學輪廓儀提供高性能非接觸表面測量，適用于實驗室研究和生產(chǎn)過程控制
產(chǎn)品型號：ContourGT-X所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： WB-200半自動引線鍵合機可進行球焊、鍥焊、金線鍵合、跳焊(Pump)技術規(guī)格特點：-鍥焊、球焊、跳焊;-半自動和手動鍵合模式;-焊線直徑：17μm-50μm...
產(chǎn)品型號：WB-200所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 布魯克Bruker光學輪廓儀ContourX-200ContourX-200光學輪廓儀提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的融合，是同類產(chǎn)品中、最準...
產(chǎn)品型號：ContourX-200所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： TheHysitronPI89掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時進行定量納米力學測試
產(chǎn)品型號：PI 89所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 布魯克Bruker三維光學輪廓儀ContourSP大面板計量系統(tǒng)融合了十余年封裝光學表征專業(yè)技術，使高密度互連PCB（HDI-PCB）基板的測量效率比上一代白光...
產(chǎn)品型號：ContourSP所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 美國Agilent7890B氣相色譜儀產(chǎn)品特性：●載氣選件：氦氣節(jié)省模塊、氫氣傳感器和替代載氣解決方案可以顯著降低氦氣的使用量，提高實驗室分析的靈活性
產(chǎn)品型號：7890B所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細摘要： 賽默飛三重四極桿液質聯(lián)用儀TSQQuantumUltraTSQQuantumUltra同時進行定量分析和定性確證，增強定量數(shù)據(jù)關聯(lián)二級掃描(QED-MS/MS)...
產(chǎn)品型號：TSQ Quantum Ultra所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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