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EPOCH1000i 經(jīng)濟(jì)型相控陣探傷儀

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產(chǎn)品型號EPOCH1000i

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更新時(shí)間：2023-02-27 09:54:40瀏覽次數(shù)：218次

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上海劭嘉檢測科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

相控陣成像功能套裝與高級常規(guī)超聲EPOCH1000i儀器為一款具有強(qiáng)大的常規(guī)超聲和相控陣缺陷探測能力的堅(jiān)固耐用的便攜式儀器

詳細(xì)介紹

相控陣成像功能套裝與高級常規(guī)超聲

EPOCH 1000i儀器為一款具有強(qiáng)大的常規(guī)超聲和相控陣缺陷探測能力的堅(jiān)固耐用的便攜式儀器。這款儀器使用單一設(shè)置顯示多種不同角度（聚焦法則）的A掃描，從而省去了對多個(gè)探頭和楔塊的需要。這個(gè)特性不僅提高了發(fā)現(xiàn)缺陷的機(jī)率，而且改善了缺陷區(qū)域的顯示效果，進(jìn)而提高了缺陷檢測的效率。這款儀器不僅具備與EPOCH 1000一樣的優(yōu)異可靠的常規(guī)檢測性能，還因使用相控陣技術(shù)增添了新的優(yōu)勢特性。EPOCH 1000i可根據(jù)常規(guī)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行符合規(guī)范的檢測，其對相控陣技術(shù)的運(yùn)用提高了檢測的精確性和效率。

EPOCH 1000i儀器的標(biāo)準(zhǔn)配置為16:16，可通過軟件升級到16:64的配置。EPOCH 1000i還包括很多有助于缺陷檢測的定量功能。儀器的標(biāo)準(zhǔn)配置還包括用于缺陷定量的A掃描和S掃描的參考光標(biāo)和定量光標(biāo)。

增益校準(zhǔn)曲線的屏幕

增益校準(zhǔn)曲線

同時(shí)顯示A掃描和S掃描的視圖

EPOCH 1000i儀器具有同時(shí)顯示A掃描和S掃描的標(biāo)準(zhǔn)視圖。這個(gè)視圖顯示來自處于用戶定義的起始角度和終止角度之間的每個(gè)角度的A掃描數(shù)據(jù)?？梢赃x擇被統(tǒng)稱為聚焦法則的某個(gè)單個(gè)角度，將這個(gè)角度的A掃描實(shí)時(shí)顯示在屏幕上。這樣用戶利用相控陣成像功能，可以同時(shí)在多個(gè)角度下探測并定性潛在的缺陷。

校準(zhǔn)全部聚焦法則

EPOCH 1000i儀器在相控陣模式下校準(zhǔn)增益和零位偏移時(shí)，只需一步操作，即可對全部聚焦法則進(jìn)行校準(zhǔn)。這種自動校準(zhǔn)操作可以在所有成像的角度（聚焦法則）下捕獲單個(gè)反射體的峰值波幅或聲時(shí)/距離測量值。然后，儀器使用捕獲的波幅或聲時(shí)/距離數(shù)據(jù)對每個(gè)聚焦法則的增益和零位偏移進(jìn)行調(diào)整，以為每個(gè)A掃描提供經(jīng)過校準(zhǔn)的測量值。

用于手動成像檢測的相控陣功能

EPOCH 1000相控陣DAC編輯模式

相控陣DAC編輯模式

用于全部聚焦法則的標(biāo)準(zhǔn)DAC/TVG

EPOCH 1000i儀器的標(biāo)準(zhǔn)配置包含用于全部聚焦法則的DAC/TVG。操作人員可以基于已知反射體，一次性為所有需要定義的角度或聚焦法則采集DAC曲線或創(chuàng)建TVG設(shè)置。隨后，用戶可以對在設(shè)置過程中采集到的單個(gè)點(diǎn)進(jìn)行編輯，以獲得精確的DAC曲線或TVG設(shè)置。設(shè)置完成以后，用戶即可使用S掃描圖像探測出各個(gè)聚焦法則下的潛在缺陷。

EPOCH 1000相控陣DGS/AVG模式

相控陣DGS/AVG模式

標(biāo)準(zhǔn)相控陣DGS/AVG

DGS/AVG缺陷定量技術(shù)是相控陣模式中的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)選項(xiàng)。這個(gè)功能使用探頭ID識別碼與楔塊信息，建立DGS/AVG曲線特性，并將曲線應(yīng)用在0°、45°、60°和70°聚焦法則上。用戶使用標(biāo)準(zhǔn)EPOCH儀器的機(jī)載DGS/AVG菜單和經(jīng)過修正的增益校準(zhǔn)工具，可以快速方便地進(jìn)行設(shè)置。這個(gè)選項(xiàng)還提供插值圖像TVG，用于在特定聲程范圍內(nèi)進(jìn)行便捷的檢測操作。

使用相控陣技術(shù)的焊縫檢測解決方案

EPOCH 1000帶有焊縫覆蓋的相控陣S掃描的屏幕

帶有焊縫覆蓋的相控陣S掃描

焊縫覆蓋

焊縫覆蓋功能是EPOCH 1000i儀器的標(biāo)準(zhǔn)配置，為用戶在S掃描顯示中提供了一個(gè)焊縫縱剖面圖的視覺參考信息。這個(gè)縱剖面圖可顯示缺陷指示相對于焊縫幾何形狀的相對位置。

用戶使用焊縫中線光標(biāo)，可以手動定位焊縫覆蓋圖在S掃描中的位置。焊縫覆蓋功能不僅加強(qiáng)了在檢測過程中探出、定性、定量工件中缺陷的能力，而且提高了缺陷檢測報(bào)告的質(zhì)量。

EPOCH 1000多角度相控陣模式的屏幕

多角度相控陣模式

EPOCH 1000i的多角度功能

EPOCH 1000i儀器的相控陣模式添加了一個(gè)名為"多角度"的標(biāo)準(zhǔn)功能。操作人員使用這個(gè)功能可掃查扇區(qū)范圍內(nèi)的任何3個(gè)角度或聚焦法則，作為"可見的"聚焦法則。A掃描窗口中會顯示疊加在一起的來自3個(gè)角度的A掃描圖像。這樣，操作人員可以同時(shí)查看全部3個(gè)A掃描圖像。為使用方便，每個(gè)單獨(dú)的角度都以不同的顏色區(qū)分。對于需要使用常規(guī)定量方法在45°、60°和70°角度處進(jìn)行評價(jià)的檢測人員來說，這無疑是一個(gè)非常的功能！

帶有真實(shí)深度閘門的A掃描和S掃描

真實(shí)深度閘門

在真實(shí)深度模式下，可以在S掃描中顯示多個(gè)測量閘門，這樣就可以在貫穿工件、間距相等的深度位置上采集測量讀數(shù)，而無需考慮所選擇的聚焦法則。這個(gè)功能在使用編碼C掃描選項(xiàng)時(shí)尤其有用，因?yàn)橛脩衾眠@個(gè)功能，可以在一個(gè)單一閘門位置上采集到一個(gè)完整跳躍距離的信息。

真實(shí)深度閘門是只會出現(xiàn)在S掃描中的幾條水平線。A掃描視圖依然保持聲程模式。

檢測人員正在演示45°聚焦法則的AWS“D

45°聚焦法則的AWS"D"值焊縫定級顯示

AWS焊縫定級

EPOCH 1000i儀器的標(biāo)準(zhǔn)配置包含一個(gè)AWS D1.1/D1.5焊縫定級計(jì)算器。如果儀器使用符合AWS定級的Olympus相控陣探頭，則可利用成像功能進(jìn)行缺陷探測，同時(shí)利用常規(guī)A掃描技術(shù)定量在45°、60°和70°處的缺陷。操作人員還可在屏幕上觀察任何所選A掃描（聚焦法則）的焊縫定級D值。

線性掃查和編碼C掃描

這個(gè)可選購軟件功能將EPOCH 1000i儀器的配置提高到了16:64晶片，既可以顯示線性掃描，也可以顯示編碼或時(shí)基C掃描。使用最多含有64個(gè)晶片，活動孔徑為16個(gè)晶片的探頭，可以采集線性掃描圖。

沿單線掃查軸進(jìn)行已編好程序的線性掃查或扇形掃查，可以采集到圖像數(shù)據(jù)；這些圖像數(shù)據(jù)的積累可以創(chuàng)建C掃描圖像。探頭沿掃查軸移動時(shí)需要有一個(gè)編碼器跟蹤探頭的移動。這個(gè)編碼C掃描圖像收集來自兩個(gè)獨(dú)立測量閘門的渡越時(shí)間（TOF）數(shù)據(jù)和波幅數(shù)據(jù)。在C掃描圖像的采集過程中會實(shí)時(shí)顯示A掃描。C掃描中所有點(diǎn)的壓縮A掃描圖像都會被存儲起來，并在顯示C掃描中某個(gè)位置的S掃描或線性掃描的同時(shí)顯示這個(gè)位置的A掃描圖像，用于基本的圖像分析。采集到掃描圖像以后，可以對數(shù)據(jù)源和類型進(jìn)行動態(tài)調(diào)節(jié)，可使用光標(biāo)進(jìn)行基本掃查定量操作。這個(gè)軟件功能還具有一些附加彩色調(diào)色板，用于相控陣掃描圖像。這些彩色調(diào)色板分別具有不同的顏色標(biāo)度，可用于各種應(yīng)用，還可被修改以滿足用戶的特殊需求。

請觀看有關(guān)編碼C掃描特性的視頻。

EPOCH 1000儀器的零度C掃描屏幕

零度C掃描

特性

編碼或時(shí)基C掃描
單向或雙向編碼
支持多達(dá)64個(gè)晶片的探頭
最小掃查分辨率為1毫米
所有C掃描點(diǎn)的壓縮A掃描存儲
可根據(jù)S掃描或線性掃描創(chuàng)建C掃描
每次掃查的編碼距離為3米（掃查分辨率為每毫米61個(gè)聚焦法則）
圖像和A掃描回放，使用光標(biāo)可進(jìn)行圖像分析

編碼C掃描技術(shù)規(guī)格
文件容量	70 Mb
最小掃查分辨率	1毫米
C掃描采集速率	20 Hz
可保存的A掃描點(diǎn)數(shù)	500點(diǎn)

與EPOCH 1000i儀器配套使用的相控陣探頭及配件

EPOCH 1000i儀器支持新型相控陣系列探頭，可滿足關(guān)鍵性檢測的要求。這些探頭包括符合某些特殊規(guī)范的特定探頭和標(biāo)準(zhǔn)焊縫檢測探頭，其中某些相控陣探頭的楔塊可被拆裝，也可與探頭整合為一體。大多數(shù)含有不超過64個(gè)晶片的常用相控陣探頭都可與EPOCH 1000i儀器兼容。

常規(guī)模式到相控陣模式的快速轉(zhuǎn)換

EPOCH 1000i在常規(guī)模式下，與所有標(biāo)準(zhǔn)單晶探頭兼容。只需按一下按鈕，便可輕松實(shí)現(xiàn)從常規(guī)UT探頭檢測到相控陣探頭檢測的轉(zhuǎn)換！鑒于EPOCH 1000i儀器這種從UT模式到PA模式的快速轉(zhuǎn)換特性，操作人員在檢測過程中可輕而易舉綜合享用常規(guī)超聲和相控陣超聲兩種技術(shù)。