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菲希爾測(cè)試儀器(中國(guó))有限公司
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更新時(shí)間:2021-11-17 11:05:43瀏覽次數(shù):198次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線特點(diǎn)同時(shí)測(cè)量從Al(13)到U(92)的多達(dá)24個(gè)元素
FISCHERSCOPE® XDV®-μ光譜儀是Fischer的X射線熒光系列,專為在最小的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行精確的鍍層厚度測(cè)量和材料分析而開(kāi)發(fā)。所有儀器都配備了一個(gè)多毛細(xì)管光學(xué)元件,可將X射線束聚焦到10μm(FWHM)。與采用準(zhǔn)直器的光學(xué)元件相比,多毛細(xì)管光學(xué)元件可以產(chǎn)生高輻射強(qiáng)度,從而大大縮短了測(cè)量時(shí)間。
所有FischerXRF儀器均配有功能眾多的WinFTM軟件,可在較高的精確度下測(cè)量各種應(yīng)用。WinFTM還有一個(gè)集成的報(bào)表生成工具,您只需單擊一下就可以創(chuàng)建單個(gè)報(bào)表。此外,WinFTM軟件還提供了向?qū)缘男?zhǔn)。
XDV-μ設(shè)備通過(guò)濾波器,電壓和電流設(shè)定的系列組合,允許您為多達(dá)24個(gè)元素的復(fù)雜應(yīng)用創(chuàng)造的激勵(lì)條件。此外,XDV-μ配備了一個(gè)可編程的XY工作臺(tái)和模式識(shí)別軟件,很容易自動(dòng)測(cè)量多個(gè)樣品。
標(biāo)準(zhǔn)版本XDV-μ配備了鎢X射線管,用于常規(guī)應(yīng)用的高精度測(cè)試。也可根據(jù)需要選擇鉬和鉻射線管。
XDV-μ儀器配備了一個(gè)大面積硅漂移探測(cè)器(有效面積50 mm2)和新型的數(shù)字脈沖處理器(DPP+)。這些組件一起使用時(shí),可以實(shí)現(xiàn)很高的計(jì)數(shù)率,這有助于最小化測(cè)量時(shí)間,同時(shí)優(yōu)化重復(fù)性。
XDV-μ系列包括專門為電子和半導(dǎo)體行業(yè)的特定應(yīng)用量身定制的專用機(jī)型。例如,XDV-μLD是定制用于組裝好的的PCB上進(jìn)行測(cè)量,XDV-μWafer具有自動(dòng)晶片吸盤,并且XDV-μLEAD FRAME針對(duì)測(cè)量引線框架鍍層優(yōu)化設(shè)計(jì)的。
想了解更多嗎? 把您的樣品寄給我們或給您安排免費(fèi)演示XDV-μ系列!
為了能以最少的時(shí)間測(cè)量最微小結(jié)構(gòu)的樣品,我們開(kāi)發(fā)了FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ 系列儀器。大面積硅漂移探測(cè)器及多毛細(xì)管透鏡確保了在測(cè)量諸如鍵合面、表面貼裝器件及細(xì)線等樣品時(shí)的高準(zhǔn)確性和高重復(fù)性。這樣就能對(duì)印制線路板上的鍍層厚度進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間且高精度的監(jiān)控。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD 型儀器是您測(cè)量大尺寸樣品的理想儀器。由于測(cè)量距離可達(dá)12mm,即使是裝配了元器件的PCB也可輕松測(cè)量。
引線框架測(cè)量可信賴的專家。借助 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LEAD FRAME,您可以在平面樣品上,在納米范圍內(nèi)高精度測(cè)量超薄鍍層的厚度。典型應(yīng)用包括CuFe基體上的Au、Pd和Ni厚度測(cè)量。同時(shí),這一X射線熒光儀器也十分適合用來(lái)測(cè)量NiP層中的P含量。
XDV-µ LEAD FRAME 配備了專為優(yōu)化低能量段信號(hào)而開(kāi)發(fā)的可切換初級(jí)濾波器和多毛細(xì)管透鏡。從而為相應(yīng)的測(cè)量需求提供了理想的激發(fā)條件。
晶圓樣品對(duì)測(cè)量技術(shù)提出了的要求。首先,樣品表面易受損壞。其次,被測(cè)點(diǎn)結(jié)構(gòu)微小,只有專門儀器才能進(jìn)行測(cè)量。配備了帶真空吸附的可編程測(cè)量臺(tái),使得FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER特別適合半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的測(cè)量需求。
集成在設(shè)備中的多毛細(xì)管光學(xué)元件將X射線聚焦到最小的測(cè)量點(diǎn)(10–20µm)。因此,XDV-µ WAFER 因此,XDV-µ晶圓可以比任何傳統(tǒng)設(shè)備更精確地分析單個(gè)微結(jié)構(gòu)。當(dāng)然,這是可以自動(dòng)完成的。
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